价格：4500，VIP:4410 SVIP:4275 LcNI$g;}Yf
课程共三十节 fjuPGg~
课程简介：
#G?",,&dM 当收到需求者的
光学规格及非光学规格如环境测试要求时，既可以着手选用所需的基板，镀膜
材料及膜数与厚度设计。设计开始可以从标准膜系着手，例如高反射镜不管波宽大小，开始我们一定是以四分之一波膜堆为设计基础，倘若是截止滤光片，则应以对称膜堆为设计基础。当初始设计无法满足要求时，我们需要考虑商业
软件或自行设计电脑软件来参与合成或
优化，设计好之后，即刻进行制造成功率分析，亦看膜层厚度的误差值的容许度，若是镀膜机的精密度做不到，则要修改设计，重新分析直到合格为止。
WU.ee iX 课程涵盖Macleod软件所有模块、光学
薄膜膜系设计与优化方法。培训期间针对实例，演示完整的光学薄膜设计与分析过程。课程旨在让各界相关技术人员快速知悉软件的各项功能的同时，并通过相关的实例演示掌握该软件在光学镀膜领域的具体应用。
r&:yZN 课程大纲：
l2w u>Ar7. 1. 软件基础入门
o$7UWKW8 软件简介
Bi "cWO 软件计算方法简介
Fta=yH } 程序基本框架和全局
参数设置
r?pFc3 ~N 程序中使用的各种术语的定义
kKDf%= 
&XXr5ne~C 2. 图表
2n#H%&^?a 绘图和制表来表示性能
]~ S
zb 3D绘图-用两个变量绘图表示性能
1Vz3N/AP%? 交互式绘图的使用
lYr4gFOs 3. 材料管理
,zJ:a>v 材料的获取
q%)."10}] 材料的导入与导出
NpbZt;%t 材料数据平滑与插值
gl2l%]=\' 用包络法推导介质膜的光学常数
W&3,XFnI_ 利用
光谱仪的测量值计算基底光学常数
u%OLXb 材料模型拟合(Sellmeier, Cauchy, Drude, Lorentz, Drude-Lorentz, Hartmann)
X]\; f 4. 薄膜设计与优化简介
mT; 优化与合成功能说明
o0 dD 优化目标&评价函数(Simplex, Optimac, Simulated Annealing, Conjugate Gradient, Quasi-Newton, Needle, Differential Evolution, Non-Local)
3-[+g}kak? 膜层锁定和链接
B&EUvY ' 减反膜优化
`dl^)4J 高反膜优化
a\B?J 滤光片优化
`nc=@" 1 斜入射光学薄膜
CE|
*&G 5. 反演工程
f Avh!g 镀膜过程中两种主要的误差（
系统误差和随机误差）
}b{7+ +
Ah 使用反演工程来控制对设计的搜索，该设计代表实际生产的产品
p`!<yq2_ 6. 分析工具
'c
>^Aai 颜色模型和分析工具
U0N6\+ 公差工具和良品率预估
q!Z{qt*`um 灵敏度分析
Mi}k>5VT 7. 附加模块-Vstack
zW[HGI6w 非平行平面镀膜
Sg \+al7 棱镜镀膜透反吞吐量评估
y~VL a 8. 附加模块-DWDM
a,n#E!zT?w 光通信用窄带滤光片
模拟 TpHzf 3.I 9. 附加模块-Runsheet&Simulator
@Q!Tvw/ 光控机器设置显示镀膜过程中预期的监测信号
="AaC!E,W 镀膜沉积过程噪声信号模拟
RS2uk 7MB 10. 附加模块-Function
!|mzu1S 如何在Function中编写脚本
{T0Au{88H 案例：自定义画图
P"[{s^mb 案例：
太阳能抗反射薄膜分析
SI=7$8T5=5 案例：膜厚变化颜色变化
