价格:4500,VIP:4410 SVIP:4275 |~k=:sSz{
课程共三十节 mgX0@#wFn
课程简介:
4p&qH igG 当收到需求者的
光学规格及非光学规格如环境测试要求时,既可以着手选用所需的基板,镀膜
材料及膜数与厚度设计。设计开始可以从标准膜系着手,例如高反射镜不管波宽大小,开始我们一定是以四分之一波膜堆为设计基础,倘若是截止滤光片,则应以对称膜堆为设计基础。当初始设计无法满足要求时,我们需要考虑商业
软件或自行设计电脑软件来参与合成或
优化,设计好之后,即刻进行制造成功率分析,亦看膜层厚度的误差值的容许度,若是镀膜机的精密度做不到,则要修改设计,重新分析直到合格为止。
mkTf}[O 课程涵盖Macleod软件所有模块、光学
薄膜膜系设计与优化方法。培训期间针对实例,演示完整的光学薄膜设计与分析过程。课程旨在让各界相关技术人员快速知悉软件的各项功能的同时,并通过相关的实例演示掌握该软件在光学镀膜领域的具体应用。
0)-l9V 课程大纲:
@DfjeS)u^ 1. 软件基础入门
_;$VH4(BI 软件简介
k&ujr:)5Y5 软件计算方法简介
X1!m]s(I 程序基本框架和全局
参数设置
'@RlKMnN 程序中使用的各种术语的定义
Fkj\U^G
!NK8_p|X 2. 图表
;%odN
d 绘图和制表来表示性能
L{Epkay,{ 3D绘图-用两个变量绘图表示性能
4VSIE"8e 交互式绘图的使用
ry3;60E\) 3. 材料管理
:gVz}/C.@ 材料的获取
Z<K[ 材料的导入与导出
`4}zB#3 材料数据平滑与插值
W}+Q!T= 用包络法推导介质膜的光学常数
UL$^zR3%d 利用
光谱仪的测量值计算基底光学常数
TLl*gED 材料模型拟合(Sellmeier, Cauchy, Drude, Lorentz, Drude-Lorentz, Hartmann)
k
uU,7<o 4. 薄膜设计与优化简介
;o_4)+} 优化与合成功能说明
3\|e8(bc 优化目标&评价函数(Simplex, Optimac, Simulated Annealing, Conjugate Gradient, Quasi-Newton, Needle, Differential Evolution, Non-Local)
Sm;&2" 膜层锁定和链接
YN9ug3O+ 减反膜优化
u2y?WcMv 高反膜优化
\06fP4? 滤光片优化
KnbT2 斜入射光学薄膜
fyYT #r 5. 反演工程
W@AZ<(RI: 镀膜过程中两种主要的误差(
系统误差和随机误差)
k# ZO4 使用反演工程来控制对设计的搜索,该设计代表实际生产的产品
DY^q_+[V 6. 分析工具
8V`r*:\ 颜色模型和分析工具
;$&&tEh) 公差工具和良品率预估
NtkEb : 灵敏度分析
6gY5v@!w 7. 附加模块-Vstack
[G+M94[A 非平行平面镀膜
#?YQ&o~gZ 棱镜镀膜透反吞吐量评估
cgc|G 8. 附加模块-DWDM
thOQcOf0$ 光通信用窄带滤光片
模拟 N-]h+Cnyu 9. 附加模块-Runsheet&Simulator
pY!@w0. 光控机器设置显示镀膜过程中预期的监测信号
P )_g t 镀膜沉积过程噪声信号模拟
zGj0'!!- 10. 附加模块-Function
M/:kh,3 如何在Function中编写脚本
\;I%>yOIu 案例:自定义画图
#JYv1F 案例:
太阳能抗反射薄膜分析
Tf
Q(f? 案例:膜厚变化颜色变化