价格：4500，VIP:4410 SVIP:4275 U`*we43
课程共三十节 ir^d7CV,
课程简介：
dO D(< 当收到需求者的
光学规格及非光学规格如环境测试要求时，既可以着手选用所需的基板，镀膜
材料及膜数与厚度设计。设计开始可以从标准膜系着手，例如高反射镜不管波宽大小，开始我们一定是以四分之一波膜堆为设计基础，倘若是截止滤光片，则应以对称膜堆为设计基础。当初始设计无法满足要求时，我们需要考虑商业
软件或自行设计电脑软件来参与合成或
优化，设计好之后，即刻进行制造成功率分析，亦看膜层厚度的误差值的容许度，若是镀膜机的精密度做不到，则要修改设计，重新分析直到合格为止。
5 zS%F: 3 课程涵盖Macleod软件所有模块、光学
薄膜膜系设计与优化方法。培训期间针对实例，演示完整的光学薄膜设计与分析过程。课程旨在让各界相关技术人员快速知悉软件的各项功能的同时，并通过相关的实例演示掌握该软件在光学镀膜领域的具体应用。
~cr iZI/ 课程大纲：
{A}T^q!m] 1. 软件基础入门
J.~@j;[2 软件简介
T)tr"<F5NP 软件计算方法简介
=o@}~G&HA 程序基本框架和全局
参数设置
T#&1q]P1F 程序中使用的各种术语的定义
U'jmgHq 
6F^/k,(k4 2. 图表
rT="ciQ 绘图和制表来表示性能
B+FTkJ0t+G 3D绘图-用两个变量绘图表示性能
%Vo' \| 交互式绘图的使用
Qz`evvH 3. 材料管理
oX6C d:c- 材料的获取
$ (& uaDYv 材料的导入与导出
lR?1,yLp 材料数据平滑与插值
@.e4~qz\ 用包络法推导介质膜的光学常数
o]0E 利用
光谱仪的测量值计算基底光学常数
7:~3B-Tb 材料模型拟合(Sellmeier, Cauchy, Drude, Lorentz, Drude-Lorentz, Hartmann)
@ !$xSH 4. 薄膜设计与优化简介
*r>Y]VG;S 优化与合成功能说明
['(qeS@5O 优化目标&评价函数(Simplex, Optimac, Simulated Annealing, Conjugate Gradient, Quasi-Newton, Needle, Differential Evolution, Non-Local)
7gtaI3 膜层锁定和链接
K81FKV. 减反膜优化
NiG&Lw*8 高反膜优化
aR6~r^jB 滤光片优化
,>6mc=p 斜入射光学薄膜
65B&>`H~ 5. 反演工程
dhLd2WSyH 镀膜过程中两种主要的误差（
系统误差和随机误差）
jhT/} "v 使用反演工程来控制对设计的搜索，该设计代表实际生产的产品
zRh)q,Dt 6. 分析工具
ca
&zYXy 颜色模型和分析工具
C4E* q3[Y 公差工具和良品率预估
QP%AJ[3ea% 灵敏度分析
+) 9=bB 7. 附加模块-Vstack
Njo.-k 非平行平面镀膜
6T"5,Q</h 棱镜镀膜透反吞吐量评估
@V4nc
'o. 8. 附加模块-DWDM
xqT} 9, 光通信用窄带滤光片
模拟 o<|u4r={s 9. 附加模块-Runsheet&Simulator
B4OFhtYE 光控机器设置显示镀膜过程中预期的监测信号
6hcs )X7m 镀膜沉积过程噪声信号模拟
@sR/l; 10. 附加模块-Function
h6Vd<sV\tf 如何在Function中编写脚本
w&U28"i> 案例：自定义画图
s]vsD77& 案例：
太阳能抗反射薄膜分析
uxW |&q 案例：膜厚变化颜色变化
