价格：4500，VIP:4410 SVIP:4275 4S ~ kNp$
课程共三十节 *c [w9(fU
课程简介：
su%-b\8K 当收到需求者的
光学规格及非光学规格如环境测试要求时，既可以着手选用所需的基板，镀膜
材料及膜数与厚度设计。设计开始可以从标准膜系着手，例如高反射镜不管波宽大小，开始我们一定是以四分之一波膜堆为设计基础，倘若是截止滤光片，则应以对称膜堆为设计基础。当初始设计无法满足要求时，我们需要考虑商业
软件或自行设计电脑软件来参与合成或
优化，设计好之后，即刻进行制造成功率分析，亦看膜层厚度的误差值的容许度，若是镀膜机的精密度做不到，则要修改设计，重新分析直到合格为止。
; Z7!BU 课程涵盖Macleod软件所有模块、光学
薄膜膜系设计与优化方法。培训期间针对实例，演示完整的光学薄膜设计与分析过程。课程旨在让各界相关技术人员快速知悉软件的各项功能的同时，并通过相关的实例演示掌握该软件在光学镀膜领域的具体应用。
~Yi4?B< 课程大纲：
~Jr'4% 1. 软件基础入门
a H?Ygzw 软件简介
qi7 C.w; 软件计算方法简介
'(3 QyCD 程序基本框架和全局
参数设置
|<h}' 程序中使用的各种术语的定义
]zaTX?F: 
Ovk=s,a)K
2. 图表
QrK%DN 绘图和制表来表示性能
%p )"_q!ge 3D绘图-用两个变量绘图表示性能
bRy(` 交互式绘图的使用
~LpkA`Hn! 3. 材料管理
U|tacO5w` 材料的获取
[;Lgb gt3f 材料的导入与导出
|~
fI=1;;x 材料数据平滑与插值
j;@a~bks6z 用包络法推导介质膜的光学常数
F +(S-Qk1 利用
光谱仪的测量值计算基底光学常数
9 ;p5z[jI 材料模型拟合(Sellmeier, Cauchy, Drude, Lorentz, Drude-Lorentz, Hartmann)
L<@* 6QH 4. 薄膜设计与优化简介
ajk}&`Wj" 优化与合成功能说明
'hU5]}= 优化目标&评价函数(Simplex, Optimac, Simulated Annealing, Conjugate Gradient, Quasi-Newton, Needle, Differential Evolution, Non-Local)
X/2GTU7? 膜层锁定和链接
6c-3+,Y"# 减反膜优化
c8 6KDEF 高反膜优化
D1Zy Js# 滤光片优化
dv\bkDF4A 斜入射光学薄膜
ial{A6X 5. 反演工程
4bA^Gq 镀膜过程中两种主要的误差（
系统误差和随机误差）
j}//e%$a 使用反演工程来控制对设计的搜索，该设计代表实际生产的产品
w=;> 6. 分析工具
Gm:s;w-;v 颜色模型和分析工具
^.8~}TT-U 公差工具和良品率预估
v:4j 3J$z 灵敏度分析
4!!PrXE 7. 附加模块-Vstack
iZy>V$Aq 非平行平面镀膜
L5I!YP#v 棱镜镀膜透反吞吐量评估
,H+Y1N4W( 8. 附加模块-DWDM
F*@2 ) 光通信用窄带滤光片
模拟 {Z8 GG 9. 附加模块-Runsheet&Simulator
tW|0_m>{ 光控机器设置显示镀膜过程中预期的监测信号
B;(U ?gC 镀膜沉积过程噪声信号模拟
Gh=I2GSo 10. 附加模块-Function
6WZffB{-TK 如何在Function中编写脚本
KF+r25uy[+ 案例：自定义画图
@,.D]43 案例：
太阳能抗反射薄膜分析
y @~ VE5N 案例：膜厚变化颜色变化
