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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-06-28
    摘要 -2XIF}.Hu  
    rMx_ <tXX  
                               A}}t86T  
    667tL(  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 6/C  
     +PD5pr  
    建模任务     P=i |{vv(  
    JIkmtZv  
    7[,f;zG  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 jF0BWPL  
    4}b:..Ku  
     W# /Ol59  
    v:ZD}Q_  
    图层矩阵解算器 B9 {DO  
    g7ROA8xu  
     }e6:&`a xD  
    ;]e"bX  
    "@Fxfd+Ot  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 ~nlY8B(  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 >l[N]CQ  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 cZ,_O~  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 au v\fR :  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     3Pq)RD|hn  
    Q?q m~wD  
    更多的信息： (\_d'Js(;  
    qdZYaS ~  
    总结-组件  EZFWxR/  
    1Sr}2@>  
    n*uZ=M_/Q  
     O2B$c\pw  
    C <)&qx3  
    两条光谱线的可视化 j_g9RmZT  
    @ vudeaup  
     Lr&tpB<  
    精细vs.涂层反射率 n40Z  
    <WmCH+>?r  
    E{B<}n|}&  
    ^6n]@4P  
    精细度vs.涂层反射率 HBu>BSv:  
    =+WFx3/  
    YWdvL3Bgk,  
    内部谐振增强     oPV"JGa/B4  
    _Fjv.VQ,  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 lX7^LB  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 V-|}.kOH2  
    Y]Q*I\X  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 T@XiG:b7  
    V _,*  
    VirtualLab Fusion技术 cR} =3|t  
    x@)u:0  
     fE iEy%o  
     
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