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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-06-28
    摘要 f$\gm+&hXE  
    IaDN[:SX  
                               ]{mz %\  
    Hchh2  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 hj~nLgpN  
    "mBX$t'gb  
    建模任务     J Iw=Bs  
    P, (#' W  
    '?WKKYD7N  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 pA ,xDs@37  
    K'Gv+UC*6  
     (5-4`:1ux  
    -+#QZ7b  
    图层矩阵解算器 :E$<!q  
    "JHd F&  
     w_O3];  
    'a}<|Et.  
    r`t|}m  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 ]<9KX} B  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 jB"?iC.  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 6*!R'  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 Q db~I#}m'  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     3,x|w  
    H)eecH$K  
    更多的信息： =TTk5(m  
    38I.1p9  
    总结-组件 /FP;Hsw%  
    dIQxU  
    yA74Rxl*6  
     {  S]"-x  
    b.Yl0Y  
    两条光谱线的可视化 Kbdjd p  
    =.*+c\  
     6 /A#P$G  
    精细vs.涂层反射率 V l,V  
    sYt\3/yL'  
    QT!!KTf  
    R]s\s[B  
    精细度vs.涂层反射率 !9w;2Z]uum  
    Jp'XZ]o\  
    \]@XY_21  
    内部谐振增强     M/O4JZEqh  
    fj/sN HU  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 ?1DA  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 1;e"3x"  
    7K*\F}2)q  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 s8/sH];  
    f{} zqCK  
    VirtualLab Fusion技术 {iz,iv/U  
    V*$(Tt(  
     Ezvm5~<  
     
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