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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-06-28
    摘要 V=V:SlS9|  
    pxf$ 1  
                               ); dT_  
    #Av.iAs  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 _D_LgH;}  
    "xHgqgFyO  
    建模任务     &n?^$LTPY  
    )'%$V%9  
    Z1Z1@2 T  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 TGe;HZ  
    &c%g  
     *B{j.{ p(  
    rZ^v?4Z\  
    图层矩阵解算器 ^__Dd)(  
    ICkp$u^  
     a@*S+3  
    2e9es  
    y+6o{`0  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 78OIUNm`  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 ANSFdc  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 G\r?f&  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 +g]yA3  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     mPP`xL?T  
    I{ :(z3  
    更多的信息： Yf~{I-|`q  
    .?e\I`Kk^'  
    总结-组件 pV,P|>YTf  
    +d!v}aJ  
    Za8#$`zq  
     oK%K}{`  
    09kt[  
    两条光谱线的可视化 $g+[yb7@  
    7=OQ8IM !  
     /E5 5Pec  
    精细vs.涂层反射率 @wC5 g 4E  
    g9WGkH F  
    -s$F&\5by  
    -O!Zxg5x  
    精细度vs.涂层反射率 z7Eg5rm|QZ  
    Bv. `R0e&  
    9>rPe1iv  
    内部谐振增强     T%n2$  
    A7`1-#  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 @b~fIW_3>  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 e^Ky<*Y  
    -x4X O`b  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 PF7&p~O(Z  
    RxN,^!OV  
    VirtualLab Fusion技术 -yg?V2  
    ]B]*/  
     0{PzUIM,W  
     
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