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摘要 YQ? "~[mL ^*?mb)
6&oaxAp<s Z$*m=]2 Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 >wSrllmj@ (1%O;D.*?{ 建模任务 w-{a>ZU0 &VPfI
A4K8DP 具有高反射(HR)涂层的标准具 o|7ztpr M{GT$Q
1&Z#$iD G^1 5V'* 图层矩阵解算器 DXF>#2E^+ y':JUwUN
9 AWFjoXl" !l9i)6W ^7Z#g0{^w 分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 _a]0<Vm C0 1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 }[;{@Zn 2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。
KP@bz 本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 /Fj*sS8 这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 ntr& |