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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-06-28
    摘要 ck+rOGv7{Z  
    eV%bJkt.  
                          
    }]?G"f t K  
    \8aF(Y^H  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 o+Z9h1z%,  
    X($SBUS6  
    建模任务
    K7VG\Ec  
    ][1u:V/ U  
    Y@Y(;C"SW  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 (32nI?)a  
    ~{Bi{aK2  
    r2'rf pQ  
    2:F  
    图层矩阵解算器 _If?&KJ r  
    IW_D$pq  
    Rw 8o]  
    [0#hgGO]P  
    !l^AKn|  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 <J`xCm K  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 c10).zZ  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 nHrCSfK  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 mh]$g<*m  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。
    LTct0Gh  
    [ 1GEe  
    更多的信息: fC|u  
    sR .j~R  
    总结-组件 wm71,R1  
    9#6/c  
    MT0{hsuK9  
    gAP}KR#T  
    H-w|JH>g  
    两条光谱线的可视化 Y sV  
    RkwY3 s"  
    j}l8k@f  
    精细vs.涂层反射率 7k|(5P;  
    $twF93u$  
    efR$s{n!  
    /)TEx}wk  
    精细度vs.涂层反射率 $(=1A>40  
    k;7.qhe:  
    Y_sVe  
    内部谐振增强
    7bS[\5  
    hM w`e  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 .?RjH6W  
    请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 +r_[Tj|Er  
    hh&y2#Io  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 pa-4|)qY  
    1+($"$ZC&B  
    VirtualLab Fusion技术 edx'p`%d5  
    Kf~+jYobO  
    |vzWSm  
     
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