-
UID：317649
-
- 注册时间2020-06-19
- 最后登录2025-04-29
- 在线时间1766小时
-
-
访问TA的空间加好友用道具
|
摘要 }\v ^+scD
<l\N|+7R
 dhRJg"vrQ 0/]_n d Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 FyD.>ot7M
h\ ,5/ )Y
建模任务 +?-qfp,:0 ^6 /j_G
 <D /a l9
具有高反射(HR)涂层的标准具 ){Z
n~z\?Y=*
 SqB /4P
s*,cF6
图层矩阵解算器 >?XbU}
R J J1
 4sY[az
9n}A ^
}F{=#Kqn^
分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 R $b,h
1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 I"!' AI-
2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 y ~#\#w {
本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 q&M:17+:Q
这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。 >7-y#SkXdo j)D-BK&+ 更多的信息： UC9{m252 6c\DJ D 总结-组件 {*=E?oF@
o<4D=.g7D
 \ZnN D1A
 $^vP< CV^0. 两条光谱线的可视化 DA <ynBQ Tx+ p8J|Yr
 G:+16XCra 精细vs.涂层反射率 me. /o(!?
1k>naf~O
 ]t/f<jKN^
Az"(I>VfD
精细度vs.涂层反射率 + Ip C
E |BE(F;K
 ~x SAR;8
内部谐振增强 h<8. 0 vOKWi:-U 整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 lE@ V>%b 请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 ,J63 ?EQ3
 #ovmX
注意: 传输值取自艾里图案的中心 xOAA1#
VkChRzhC
VirtualLab Fusion技术 j jLwHJ
F}Kkhs
{
 ;@R=CQ6
|
