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摘要 &cWjEx a,F&`Wg
%*aJLn+]_R DFhXx6] Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 ah
@uUHB 4n #ov=)-~ 建模任务 JO=[YoTr uw\2qU3gk
dY?`f<* 具有高反射(HR)涂层的标准具 %75xr9yOP E$9Ys
alh >"9~! aQ^umrj@?9 图层矩阵解算器 CQel3Jtt. Fhv/[j^X
Mb3}7 @/[ ,B4VT 96* }X
GEX:1K 分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 oH0X<' 1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 _&K 2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 m)V/L]4 本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 y4h=Lki@ 这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 Vpy 2\wZWb '$4O!YI9@ 更多的信息: %r&-gWTQ, q$1PG+- 总结-组件 {G <kA(Lm i)#:qAtP*
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2 两条光谱线的可视化 85EQ5yY 6wco&7
zF5uN:-s 精细vs.涂层反射率 7t,t` 1c JF/"v
I^o!n5VM UhIDRR 精细度vs.涂层反射率 Fnk_\d6Ma n| GaV
hOhS) 内部谐振增强 .0R v(Y GGhM;%H_99 整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 XeBP`\>Ve 请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 u?sVcD[
r`c_e)STO 注意: 传输值取自艾里图案的中心 5[j`6l NrP0Ep%V VirtualLab Fusion技术 d #jK=:eK 3\T2?w9u(
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