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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    光券
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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2023-06-28
    摘要 kIX1u<M~  
    tJ 2GSZ`  
                               #y[U2s Se  
    Ij$C@hH  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 AL.psw-Il  
    J/O{x  
    建模任务     UoPY:(?;i  
    7}g4ePYag  
    6JDaZh"=K  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 &!OEd ]  
    DzQ  
     DY9]$h*y  
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    图层矩阵解算器  ?C#E_  
    N0.|Mb"?t  
     DU0/if9.  
    Pc_aEBq  
    tAF?. \x"g  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 nYFrp)DLK  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 5nUJ9sqA  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 8AX_y3$  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 M `^[Y2 c  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     P RWb6  
    o6d x\  
    更多的信息： d 8DU[p  
     UXs)$  
    总结-组件 BMy3tyO  
    m3gv %h  
    !t^DN\\#  
     ])o{!}QUl\  
    XTo7fbW*  
    两条光谱线的可视化 }Nsdk',}  
    vWZXb `  
     8.[F3Tk=  
    精细vs.涂层反射率 8 {V9)U  
    ca{MJz'  
    $[A\i<#  
    1^4:l!0D  
    精细度vs.涂层反射率 EU%,tp   
    )63 $,y-;$  
    L%T(H<G  
    内部谐振增强     P"8Ix  
    8o$rF7.-  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。  k~ ^4  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 eHyUY&N/  
    WJ25fTsG  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 r<ucHRO#  
    #cu{AdK  
    VirtualLab Fusion技术 =FrB{Eu  
    3R3H+W0{  
     V0=%$tH  
     
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