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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2023-06-28
    摘要 R':a,6 O  
    |@Z QoH  
                          
    !q$IB?8   
    WRD^S:`BH  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 @n})oAC,  
    PRf2@0ZV  
    建模任务
    " $m3xO  
    3pl.<;9r  
    -<CBxyZa&  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 ?K}/b[[0v  
    h`jtmhoz  
    )8P<ZtEU  
    YMm Fpy  
    图层矩阵解算器 9/Q5(P  
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    ~9x$tb x-  
    ]Ub?Wo7F?  
    PBkKn3P3  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 -LQ%)'J ZN  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 Z=wLNmH  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 +}*]9nG  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 :@kSDy+*Q  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。
    MbjH\XRB  
    G?YKm1:w   
    更多的信息: UJlKw `4  
    <!4'?K-N  
    总结-组件 3<?(1kSo>>  
    8Gs{Zfp!D  
    ? NVN&zD]  
    n802!d+Tn  
    Rz%+E0  
    两条光谱线的可视化 z) Bc91A  
    N{oD1%  
    C3WqUf<8`{  
    精细vs.涂层反射率 +ZXk0sP_<  
    6Pd;I,k  
    Z\`uI+`  
    7pr@aA"vgj  
    精细度vs.涂层反射率 d94Lc-kq^  
    Q<Utwk?nL  
    |P~TZ  
    内部谐振增强
    M(SH3~  
    c1!h;(&  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 -pyTzC$HO  
    请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 P(qUx9  
    m!w(Q+*j  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 :'a |cjq  
    )1&[uE#L  
    VirtualLab Fusion技术 * UBU?  
    |)yO] pB:  
    ?v `0KF  
     
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