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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    科学家
     
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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2023-06-28
    摘要 N7pt:G2~%  
    BSDk9Oc  
                               c'rd$  
    Fr;lG  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 4>_d3_1sn  
    g}r^Xzd;  
    建模任务     =GTD"*vwr  
    u-39r^`5  
    ppFYc\&=  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 :'Xr/| s  
    {82rne `[  
     +c r  
    p%8 v`  
    图层矩阵解算器 !qaDn.9  
    qguVaV4Y  
     $m8leuo)  
    *%?d\8d  
    j6og3.H-  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 ns26$bU  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 8Z!*[c>K-?  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。  0Ve%.k  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 |Ng"C`$oqv  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     eJ:Yj ~X`<  
    y;:]F|%<  
    更多的信息： B@-"1m~la?  
    K7Gm-=%  
    总结-组件 agW9Go_F[  
    `#U ]iwW!  
    "uhV|Lk*7  
     *:j-zrwu&  
    3KT_AJ4}  
    两条光谱线的可视化 LfllO  
    gLx/w\l6  
     QPV@'.2m  
    精细vs.涂层反射率 KGQC't  
    jE*Ff&]%m  
    @p6@a6N%  
    - `4Ty*K  
    精细度vs.涂层反射率 esteFLm`6  
    |lE-&a$xd  
    &SrGh$:X  
    内部谐振增强     ~?-qZ<9/  
    Pxk0(oBX  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 5v3RVaqZ  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 ZYDW v/u  
    !%wdn33"  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 `I{tZ$iD  
    yp?w3|`4;  
    VirtualLab Fusion技术 =1/q)b,p)  
    $W*|~}F/Ap  
     6W:1>,xS  
     
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