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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    科学家
     
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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2023-06-28
    摘要 ^.jIus5  
    c_a*{L|c  
                               $Hqm 09w  
    hfP}+on%  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 dUeM+(s1  
    &O5%6Sv3d  
    建模任务     Q)yhpwrX  
    +jzpB*@  
    yNdtq\h  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 pgT{#[=>  
    JE,R[` &  
     (i>VJr  
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    图层矩阵解算器 Oa\!5Pw1  
    ":?>6'*1  
     DIodQkF  
    q5:-?|jXJ  
    A- IpE  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 Y TxUKE:  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 -wlob`3  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 HH+NNSRO  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 34U/"+|z  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     K^?yD   
    sl-LX)*N#  
    更多的信息： 7qA);N  
    ya{vR* '~  
    总结-组件 zAt!jP0E  
    cqr!*  
    ^*'|(Cv  
     h>$,97EU  
    ]"q[hF*PM  
    两条光谱线的可视化 ~;#J&V@D  
    z~+_sTu  
     UZMo(rG.]{  
    精细vs.涂层反射率 qO[6?q=c:  
    dz &| 3o  
    yAR''>  
    U*, 8 ,C  
    精细度vs.涂层反射率 B`<(qPD  
    :h0as!2@dp  
     IPa08/  
    内部谐振增强     neJNMdv@T  
    lYT}Nc4"="  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 1K^blOLXe  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 _ZIaEJjH/  
    ]ms#*IZ  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 k=H{gt  
    p=\DZU~1  
    VirtualLab Fusion技术 -w=rNlj  
    |uV1S^ !A  
     uNl<= 1  
     
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