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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    科学家
     
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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2023-06-28
    摘要 N*w6D:  
    ms]r1x"  
                               )-s9CWJv  
      L* 0$x  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 mM$|cge"  
    Lhz*o6)  
    建模任务     rsaN<6#_^Q  
    #hZ`r5GvTj  
    q^w@l   
    具有高反射(HR)涂层的标准具 Ov-Y.+L:  
    VRs|";  
     ;(3!#4`q(]  
    sOyL  
    图层矩阵解算器 0R-J \  
    hE;|VSdo  
     2bnYYQ14:  
    :u9OD` D  
    EEn8]qJC  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含  ;H4s[#K  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 f|'0FI  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 )Ggv_mc h  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 Vm*E^ v  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     o}p^q:T*  
    gWu<5Y=C  
    更多的信息： E Xxv  
    }1#prQ0F  
    总结-组件 bk=ee7E7>  
    U!\~LKfA  
    FX1H2N(  
     sW,JnR  
    W>j@E|m$  
    两条光谱线的可视化 sx n{uRF  
    #I"s{*  
     -hY@r 7y  
    精细vs.涂层反射率 `oU|U!|  
    5~[m]   
    % aqP{mOO  
    6dncUfB  
    精细度vs.涂层反射率 (2Z k fN  
    x^7 9s_h5  
    %X BMi ~  
    内部谐振增强     dSI<s^n  
    ;O7Vl5R  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 eBWgAf.k  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 v{X<6^g  
    !T#EkMM  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 = inp>L  
    +'$5Jtz  
    VirtualLab Fusion技术 #:NY9.\o  
    #,9s\T  
     !pZ<{|cH  
     
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