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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    科学家
     
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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2023-06-28
    摘要 *!r\GGb  
    ecY ^C3+S  
                               E&iWtwkz  
    .WL\:{G8;  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 e_>rJWI}  
    !_XU^A>  
    建模任务     ( l3UNP  
    Uf7F8JZmM  
    hSx+ {4PZ  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 F653[[eQ  
    {0A[v}X ~  
     D_yY0rRM  
    %|D\j-~  
    图层矩阵解算器 6PzN>+t^y  
    :{wsd$Qlj  
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    8aZey_Hw;+  
    BuEQ^[Ex  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 |L.~Am d  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 (Qx-KRH  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 /,rF$5G,  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 aV?}+Y{#  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     2#n$x*CY  
    q5I4'6NF  
    更多的信息： /v bO/Mr  
    RK~FT/  
    总结-组件 K)h"G#NZM  
    ^7~SS2t!  
    WB=<W#?w7%  
     _A)_K;cz  
    < ;%q  
    两条光谱线的可视化 Y&05 *b"  
    ir@N>_  
     6XOpB^@  
    精细vs.涂层反射率 M|Dwk3#  
    $^NWzc  
    AG$-U2ap  
    SRG!G]?-  
    精细度vs.涂层反射率 rd"]@ ~v1  
    Z|Lh^G  
    0IPhVG~#  
    内部谐振增强     Zm; +Ku>  
    9$Pl'>5  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 :|m~<'g  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 f<> YYeY  
    JIY ^N9_  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 #nc@!+  
    -YRL>]1  
    VirtualLab Fusion技术 (;2J(GZ:$U  
    soqNzdTB2  
     T24#gF~  
     
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