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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2023-06-28
    摘要 <yH4HY  
    y3o25}"  
                          
    zp%Cr.)$  
    /q`xCS  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 |~vI3]}fx  
    5MtLT#C3r  
    建模任务
    =t H:,SH  
    ''\O v  
    PC-"gi =h  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 ([m mPyp>L  
    O4V.11FnW  
    tAv@R&W,  
    2bkX}FWd;  
    图层矩阵解算器 t_$2CRG#  
    \Yc'~2n  
    sEGO2xeI  
    G#u6Am)T  
    +>{Y.`a;Jo  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 h1B16)  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 AN/;)wc  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 c_'OPJ  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 2;DuHO1  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。
    C8V/UbA /  
    |6K+E6H  
    更多的信息: U<_3^  
    YH\OFg@7  
    总结-组件 C,ARXW1  
    4;0lvDD  
    lrIS{MJ+-  
    rPLm5ni  
    Vt".%d/`7  
    两条光谱线的可视化 #/Vh|UeX  
    IJ(  
    jw^<IMAG\8  
    精细vs.涂层反射率 S/e2P|}  
    "J [K 3  
    0"\H^  
    iV*q2<>  
    精细度vs.涂层反射率 j/_ s"}m{  
    y)W@{@{kl  
    Of[XKFn_  
    内部谐振增强
    3c]b)n~Y  
    117EZg]O  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 C1m]*}U  
    请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 FtfKe"qw  
    ToXki,  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 P(,p'I;j  
    Vr^n1sgE}r  
    VirtualLab Fusion技术 $m].8?  
    Q;43[1&3w  
    GzI yP(U  
     
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