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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    科学家
     
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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2023-06-28
    摘要 l8?C[, K%  
    _OG9wi(Fpx  
                               h F+aL  
    a2.6 S./  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 :PBFFLe  
    bK6^<,~  
    建模任务     8a*&,W  
    SWw!s&lP&  
    a_!H_J  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 zV}:~;w  
    HsTY*^V  
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    60|PVsmDm  
    图层矩阵解算器 1Z ~C3)T=  
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     ]0T*#U/P  
    _yAY5TIv  
    B](R(x>L  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 9]+zZP_#  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 k}:;`ST  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 5{(4%  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 F)~>4>hPr  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     j~Pw t9G  
    +%TgX&a  
    更多的信息： $yi:0t8t  
    <5%*"v  
    总结-组件 P<X?  
    Ag2~q  
    M-].l3  
     (<_kq;XtN0  
    uxn+.fA  
    两条光谱线的可视化 w/ ~\NI  
    .WKJ37od  
     =c \(]xX  
    精细vs.涂层反射率 \},H\kK+^  
    s:l H4B  
    ~x(|'`  
    @+t|Aa^g  
    精细度vs.涂层反射率 'y!qrmMRr  
    ].d%R a:{  
    q}p$S2`  
    内部谐振增强     ShL!7y*rT{  
    H.|I|XRG/  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 G^ k8Or2  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 43h06X`  
    e46`"}r  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 ]#4kqj}  
    ;UXV!8SM  
    VirtualLab Fusion技术 .n+ ;&5  
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