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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    科学家
     
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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2023-06-28
    摘要 Yxp.`  
    [> Q+=(l  
                               >+ul LQqe  
    Wxx? iW ,  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 &'Pwz  
    *]:gEO  
    建模任务     9!&fak _  
    ux:czZqy  
    wylbs@  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 ~.;+uH<i  
    fMgB!y"Em  
     DryN}EMOKD  
    ZCVwQ#Xe+  
    图层矩阵解算器 78T9"CS  
    }8`W%_Yk  
     GgwO>[T  
    {}RE;5n\['  
    |*W_  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 d^p af  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 bk^W]<:z`  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 B >2"O  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 : p %G+q2  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     ;;;aM:6\  
    [;~:',vHQf  
    更多的信息： FOz~iS\  
    HGM? ?=  
    总结-组件 iYJ:P  
    S5'ZKk  
    nE;^xMOK!  
     A@M%}h  
    J'{69<`Dl  
    两条光谱线的可视化 :4JqT|nS  
    5yBaxw`  
     ~xfoZiIA}  
    精细vs.涂层反射率 jT/}5\  
    xgeDfpF'  
    Lxz!>JO>  
    vz$-KT4e^  
    精细度vs.涂层反射率 +pMa-{  
    _:"PBN9  
    !A_<(M<  
    内部谐振增强     k_ d)  
    1V ?)T  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 ^hL?.xj  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 =T7lv%u  
    JzuU k  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 /1D]\k()  
    q-? k=RX`  
    VirtualLab Fusion技术 n`v;S>aT  
    f[r?J/;P9  
     ;zq3>A  
     
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