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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-06-28
    摘要  ^ :  
    Q~b M  
                               tz0Ttu=xH  
    UpszCY4  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 v0hfY   
    z[KN^2YS  
    建模任务     ulPrb>i  
    },Y; (n'  
    HM$`z"p5jg  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 "z#?OV5  
    QNa}M{5>h  
     \:_.N8"  
    z[|PsC3i:  
    图层矩阵解算器 >Xh(`^}SQ*  
    xvx\H'  
     ^pQo`T6  
    \@}$Wjsl  
    XoxR5arj  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 CSX$Pk*  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 Y)4Nydq  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 c~L6fvS  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 s68_o[[E  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     +U_-Lq )  
    Hdq/E>u  
    更多的信息： NW4 s'roP  
    SX?$H~A  
    总结-组件 ]tdo&  
    wD?=u\% &  
    {DXZ}7w:v  
     B[0,\>  
    wx"6",M  
    两条光谱线的可视化 Er/5 ,  
    @Z=|$*9  
     I_6` Z 0  
    精细vs.涂层反射率 `Z7ITvF>  
    aWsKJo>j[#  
    g7U:A0Z  
    AINFua4A  
    精细度vs.涂层反射率 4gv XJK-  
    J2 rLsNC]0  
    BWi 7v  
    内部谐振增强     hPeKQwzC0  
    |nH0~P#!  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 +|"n4iZ!)  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 *UL|{_)c  
    iUG/   
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 A%m `LKV~@  
    +@],$=aE?  
    VirtualLab Fusion技术 zs&`:  
    !VJa$>,  
     t`1]U4s&I  
     
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