切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 520阅读
    • 0回复

    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线infotek
     
    发帖
    5937
    光币
    23838
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-06-28
    摘要 YBb%D  
    C{AVV<  
                          
    's#"~<L^e  
     n aE;f)  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 =w&JDj  
    ^UTQcm  
    建模任务
    CJ0{>?  
    e lj]e  
    Bs7/<$9K/  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 0G@sj7)]  
    it?l! ~  
    V}de|=  
    U 8Rko)  
    图层矩阵解算器 ^0" W/  
    !5 8j xh  
    W6cA@DN$#  
    'Bul_D4B  
    ;oL`fQyr  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 w#ha ^4  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 )q#1C]7m*  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 Qy!*U%tG'  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 :v-&}?  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。
    ME'hN->c  
    gKyYBr  
    更多的信息: `+Ko{rf+9  
    i n}N[  
    总结-组件 0|mF /  
    ZY N HVR  
    zT _  
    *>b*I4dz  
    9RzTC  
    两条光谱线的可视化 % Q| >t~  
    Rn] `_[)*~  
    j^ y9+W_b  
    精细vs.涂层反射率 yWsJa)e3*@  
    #ZFedK0vv  
    .rfKItd  
    99xs5!4s  
    精细度vs.涂层反射率 K chp%  
    fV}:eEo|Y  
    EMe3Xb `  
    内部谐振增强
    2;!,:bFb  
    >gQJ6q  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 R8Kj3wp  
    请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 ape \zZCV  
    }(*eRF'  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 Wc6Jgpl  
    H NFG:t9  
    VirtualLab Fusion技术 QL_vWG -  
    H> zX8qP+  
    ]g/:lS4  
     
    分享到