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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-06-28
    摘要 &2%|?f|  
    gT=pO`a  
                               JXRU9`3)A  
    DO{otn 9<  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 i@D4bd9lR  
    oR8'^G0<  
    建模任务     nT01B1/<]  
    z.(DDj  
    `e;r$Vpd_  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 t%e<]2-8  
    *MlEfmB(  
     du'`&{_/  
    'y>Y*/  
    图层矩阵解算器 s5G`?/  
    Uu*iL< `  
     z}==6| {  
    E_'H=QN c  
    c zT2f  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 ?vbAaRg50s  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 yaG:}=.3  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 ]zAwKuIK  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 jPo,mz&^  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     Odw'Ua  
    QEut@L  
    更多的信息： N)D+FV29y  
    %2b^t*CQ  
    总结-组件 DC/Czkv9  
    /zXOta G  
    7f k)a  
     P RUl-v  
    !U}2YM J  
    两条光谱线的可视化 F =*4] O  
    KX;JX*)J  
     .9Cy<z  
    精细vs.涂层反射率 F_-xp1|  
    m3o -p   
    oR~d<^z(  
    7BINqVS&  
    精细度vs.涂层反射率 V'>Plb.A  
    dG0zA D  
    cK\ u  
    内部谐振增强     PW5)") z  
    =NY55t.  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 X=1o$:7  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 R{Zd ]HT  
    ,W[J@4.  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 )qMbk7:v\  
    ;a>u7rw  
    VirtualLab Fusion技术 A/:_uqm4  
    'nM4t  
     %x{kd8>u!  
     
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