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摘要 Q\W)} ? o&goiM
NoMlTh(O K5RgWP Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 6i;q=N$' G6}!PEwM 建模任务 ykRd+H-t Dm%Q96*VAq
~ z^49Ys: 具有高反射(HR)涂层的标准具 k]A=Q baBPf{<
w`EC6ZN P v=]7>e 图层矩阵解算器 ._]*Y`5)d p1[|5r5Day
HWIn.ij 1,:QrhC ~# \{'< 分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 gL~3z'$ 1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 P1z:L 2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 IAWs}xIly 本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 &1Y7Ne 这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 nXk9
IG( $> ;| 更多的信息: E@%1HO_ mE;^B%v 总结-组件 vT MCZ+^g S'`G7ht
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:`K2?;DC8 v-8{mK`9\ 两条光谱线的可视化 A8QUfg@uK~ !acuOBv,
~Y{]yBGoF 精细vs.涂层反射率 [?=DPE% PbY.8d%2/k
nTw:BU4jd M?Fv'YE 精细度vs.涂层反射率 '"XVe+.O y<~(}xsHh
>0u*E *Y 内部谐振增强 gV$0J?Pr. }8ESp3~e_ 整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 c6 .j$6t 请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 H@1qU|4
z8r?C 注意: 传输值取自艾里图案的中心 xXnSo0`LF 4jlwu0L+ VirtualLab Fusion技术 V)4?y9xZv Bio QV47B
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