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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-06-28
    摘要 /)_4QSz7  
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                               Y%"$v0D  
    X#$ oV#  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 6J,h}S  
    ,#ZPg_x?1  
    建模任务     z U[pn)pe  
    Zwc&4:5%  
    tz;o6,eb  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 GE!nf6>Km  
    #  `E  
     9S]pC?N]E  
    qK%N{ro[{?  
    图层矩阵解算器 O pu*i  
    }=bzUA`C  
     [#gm[@d,  
    ,nteIR'??  
    'W_NRt:  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 $GRwk>N  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 -1Li&K7  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 hTLf$_|P  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 8m iJQIq  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     j? BL8E'   
    ZNw|5u^N  
    更多的信息： fKY-@B[|  
    WMtFXkf6"  
    总结-组件 /(s |'"6  
    PM84Z@Y  
    *bFWNJ}`q  
     S,:!H@~B  
    wd*B3  
    两条光谱线的可视化 :.g/=Q(T~  
    a8T9=KY^  
     _)5E=  
    精细vs.涂层反射率  <Y"RsW9  
    A_@..hX(  
    i_*yS+Z;  
    *$0*5d7  
    精细度vs.涂层反射率 s 7 nl  
    jnp~ACN,  
    a%`Yz"<lQ  
    内部谐振增强     jq)Bj#'7  
    y p{Dl  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 yy{YduI  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 Gn 9oInY1  
    :} =lE"2  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 QO;Dyef7b  
    /a32QuS  
    VirtualLab Fusion技术 L-?ty@-i  
    =p.avAuSn  
     moxmQ>xoH  
     
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