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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-06-28
    摘要 wv~?<DF  
    :<}.3Q?&  
                               tluyx  
    ji|`S\u#b  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 _#nP->0)  
    Y.<&phv  
    建模任务     ^6Std x_  
    ]q2g[D o5  
    fy(i<L Z  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 M]Y72K^  
    u7Xr!d+wR  
     6.!3g(w   
    xTJ-v/t3<  
    图层矩阵解算器 ;{Sgv^A  
    WG_20JdJY  
     _Q:739&  
    (;11xu  
    MZ8jL,a^  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 $|2@of.  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 V`n;W6Q17  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 y8{PAH8S  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 J01Y%W  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     ,a$ ?KX  
    nA\9UD<G.  
    更多的信息： &dino  
    Pw"o[8  
    总结-组件 B~/LAD_  
    KXgC]IO~  
    CXQPbt[5  
     fCMH<}w  
    9P3jx)K  
    两条光谱线的可视化 Y{ho[%  
    NdS6j'%B@7  
     cdDMV%V  
    精细vs.涂层反射率 Zm:Wig ,a  
    ,u^S(vxyz  
    ,=9e]pQ  
    n: ~y]  
    精细度vs.涂层反射率 5PJB<M_m:  
    uh~/ybR  
    }+L!r53g6  
    内部谐振增强     r~sx] =/  
    R?Dbv'lp>  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 j;tT SNF  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 +P7A`{Ae  
    cm8-L[>E  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 _u`NIpXSP  
    ?,J N?  
    VirtualLab Fusion技术 )U`"3R  
    yn0OPjH  
     Ty"OJ  
     
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