切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 544阅读
    • 0回复

    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    在线infotek
     
    发帖
    6080
    光币
    24553
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-06-28
    摘要 -+?ZJ^A   
    $REz {xgA=  
                          
    mhVdsa  
    H(Pzo+k*  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 He vZ}.  
    w%~UuJ#i  
    建模任务
    T&+*dyNxMK  
    o9\J vJk  
    0`UI^Y~Q  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 QiC}hj$  
    l7 Pn5c  
     PgI H(  
    ywQ[>itMa  
    图层矩阵解算器 o1lhVM`15  
    3N c#6VI  
    Gf71udaa  
    f$1&)1W[  
    VJbsM1y M  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 ZDny=&>#  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 m&vuBb3  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 qJ(XW N H  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 8! eYax   
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。
    xnP@ h  
    D[/h7Ha  
    更多的信息: 42$ pvw<  
    .ni<'  
    总结-组件 T,@s.v  
    gZq _BY_U  
    CCDU5l$$  
    sE^ee2]OI@  
    ~'1gX`o:  
    两条光谱线的可视化 <qGxkV  
    8ShIn@|32  
    hZ_@U?^  
    精细vs.涂层反射率 .n[;H;  
      6a}  
    B@w/wH  
    6}l[%8  
    精细度vs.涂层反射率 !,lk>j.V  
    A(eB\qG  
    CiWz>HWH  
    内部谐振增强
    Oh# z zo  
    V82HO{ D  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 W6gI#  
    请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 {ty)2  
    5(5:5q.A/D  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 tn{YIp   
    36e  
    VirtualLab Fusion技术 .Ht;xq  
    hsB3zqotF  
    W{m_yEOf  
     
    分享到