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摘要 V!lZ\) $oj:e?8N
$6mX P(H8[ , Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 te3}d'9&| 4)@mSSfn. 建模任务 d/[;
`ZD+ :c8&N-`
|y0(Q V 具有高反射(HR)涂层的标准具 n/Sw P _a6[{_Pc
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1guJG_;z 图层矩阵解算器 ^>jwh \/: {)T~
[R=yF ~- jz
qyk^X -I&m:A$4* 分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 %Z):>' 1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 L3@82yPo! 2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 FFu9&8Y 本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 j@SQ~AS 这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 +y&Tf#.V/A >8k_n 更多的信息: gj*+\3KO@a E`?3PA8 总结-组件 .^h#_[dp f33 l$pOp
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,.OERw IIn"=g=9 两条光谱线的可视化 AaWs}M vUohtS*
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Ft4L 精细vs.涂层反射率 +RyjF~[e J|~MC7#@q
j2QmxTa! ]sE?ezu 精细度vs.涂层反射率 j$?{\iXZ 7f0lQ
DXJ`oh 内部谐振增强 Y8-86 *zC ;\14b?TUH 整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 ^eo|P~w
g 请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。
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(Iaf?J5{ 注意: 传输值取自艾里图案的中心 vgfcCcZ_iZ BqD'8zLD VirtualLab Fusion技术 _j< K=){ VQ7*Z5[1
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