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摘要 -+?ZJ^A $REz{xgA=
mhVdsa H(Pzo+k* Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 He vZ}. w%~UuJ#i 建模任务 T&+*dyNxMK o 9\J
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0`UI^Y~Q 具有高反射(HR)涂层的标准具 QiC}hj$ l7 Pn5c
PgIH( ywQ[>itMa 图层矩阵解算器 o1lhVM`15 3N c#6VI
Gf71udaa f$1&)1W[ VJbsM1y M 分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 ZDny=&># 1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 m&vuBb3 2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 qJ(XW N H 本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 8! eYax 这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 xnP@h D[/h7Ha 更多的信息: 42$ pvw< .ni<' 总结-组件 T,@s.v gZq_BY_U
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sE^ee2]OI@ ~'1gX`o: 两条光谱线的可视化 <qGxkV
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hZ_@U?^ 精细vs.涂层反射率 . n[;H;
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B@w/wH 6}l[%8 精细度vs.涂层反射率 !,lk>j.V A(eB\qG
CiWz>HWH 内部谐振增强 Oh# z zo V82HO{ D 整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 W6gI# 请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 {ty)2
5(5:5q.A/D 注意: 传输值取自艾里图案的中心 tn{YIp 36e VirtualLab Fusion技术 .Ht;xq hsB3zqotF
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