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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-06-28
    摘要 V!lZ\)  
    $oj:e?8N  
                          
    $6mX  
    P(H8[,  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 te3}d'9&|  
    4)@mSSfn.  
    建模任务
    d/[; `ZD+  
    :c8&N-`  
    |y0(Q V  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 n/SwP  
    _a6[{_Pc  
    Z Uox Mm  
    1guJG_;z  
    图层矩阵解算器 ^>jwh  
    \/: {)T~  
    [R=yF ~-  
    jz qyk^X  
    -I&m:A$4*  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 %Z):>'  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 L3@82yPo!  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 FFu9&8Y  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 j@SQ~AS  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。
    +y&Tf#.V/A  
    >8k _n  
    更多的信息: gj*+\3KO@a  
    E`?3PA8  
    总结-组件 .^h#_[dp  
    f33l$pOp  
    +VO-oFE|  
    ,.OERw  
    IIn"=g=9  
    两条光谱线的可视化 AaWs}M  
    vUohtS*  
    hw= Ft4L  
    精细vs.涂层反射率 +RyjF~  
    J|~MC7#@q  
    j2QmxTa!  
    ]sE?ezu  
    精细度vs.涂层反射率 j$?{\iXZ  
    7f0lQ  
    DXJ`oh  
    内部谐振增强
    Y8-86 *zC  
    ;\14b?TUH  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 ^eo|P~w g  
    请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 ^,/RO5  
    (Iaf?J5{  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 vgfcCcZ_iZ  
    Bq D'8zLD  
    VirtualLab Fusion技术 _j< K=){  
    VQ7*Z5[1  
    gG*X^Uo  
     
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