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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-06-28
    摘要 QV%,s!_b  
    qI= j>x  
                               ;rvZ!/  
    =6YffXa_s  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 l|jb}9(J  
    A?zxF5rfp  
    建模任务     <>l!  
    f.e4 C,  
    $ca>b X]  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 jhx@6[  
    qA;!Pql`  
     C@F3iwTtp  
     26[.te9  
    图层矩阵解算器 7eU|iDYo  
    hLo'q^mGr  
     ,6Ua+\|  
    O!3`^_.  
    &al\8  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 znq/ %7  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 2EAY`}Rl6.  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 b%_[\((  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 4*9WxhJ ]0  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     <c!I\y  
    IEj=pI   
    更多的信息： -<Oy5N  
    yv+DM`0  
    总结-组件 {8im{]8_  
    Gi S{=+=5  
    ^`f( Pg!  
     =N?K)QD`  
    tj< 0q<is  
    两条光谱线的可视化 p6*|)}T_%  
    uzO3_.4Y  
     ] RLEyDB  
    精细vs.涂层反射率 LVAnZ'h/|  
    *nYb9.T]i  
    'kE^oX_  
    ^(.utO  
    精细度vs.涂层反射率 Ks/Uyu. X  
    =5D@~?W ZG  
    R1j)0b6cQ%  
    内部谐振增强     l ]CnLqf&  
    r4wnfy  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 wPRs.(]_  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 \?K>~{)  
    RI0 +9YJ  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 =7P(T`j  
    >&DNxw  
    VirtualLab Fusion技术 PTf.(B"z  
    SHt#%3EU  
     f%ynod8  
     
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