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摘要 _CXXgF[OCA >)S'`e4Gu
wq`\p['Q, }J\KnaKo Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 C**kJ -xc'P,` 建模任务 407;M%?'A ' $X}' u
%dA7`7j 具有高反射(HR)涂层的标准具 0Kenyn4 ? p4I6oS`/.
iC\t@BVS ^tFgkzXm 图层矩阵解算器 qf6}\0
cy4V*zwp
O8S"B6?$~' Y4n;[nHQ( pM7xnL4 分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 U0%m*i 1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 `(?x@Y>.Ht 2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 *`.4M)Ym~ 本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 |p{FSS 这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 'aW<C> oFUP`p%[ 更多的信息: @^93q <y5f[HjLy 总结-组件 B$cx
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'HDbU#vD -QUvd1S40 两条光谱线的可视化 _fQBXG2 iv62Fs'
:N([s(}!$2 精细vs.涂层反射率 '^Ce9r} HQl_/:Wx
/R44x\nhr 7lz"^ 精细度vs.涂层反射率 y*Wl(w3 8y,
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NP*M#3$[ 内部谐振增强 ,ZLg= |k^ * 整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 {|J'd+ 请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 _ s[v:c
5=--+8[ bV 注意: 传输值取自艾里图案的中心 lfp'D+#p{ mMEa*9P VirtualLab Fusion技术 &u/T,jy` enGjom
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