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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-06-28
    摘要 *&\fBi]  
    UUF;Q0X  
                               *:*Kdt`'G  
    \R0&*cnmo  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 laQM*FLg  
    QE.a2 }  
    建模任务     abVz/R/o  
    -zq_W+)ks  
    jd&kak  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 cS'|c06  
    F^v <z)x  
     7|"gMw/  
    >c~ Fg s  
    图层矩阵解算器 HZ#<+~J  
    Wn9b</ tf  
     BpGK`0H  
    SRixT+E  
    {bSi3oI  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 6uU2+I  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 dz6i~&  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 Z|z+[V}[  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 $Y mD;  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     L0Fhjbc  
    jM E==)Y  
    更多的信息： tWNz:V  
    M] +FTz  
    总结-组件 t/=xY'7  
    %Q}T9%Mtj  
    O%(E 6 n  
     R9/(z\'}  
    azj:Hru&t#  
    两条光谱线的可视化 g]=w_  
     {ws:g![  
     o771q}?&`  
    精细vs.涂层反射率 0V5 RZ`.  
    gUo L8~  
    %D(% lh2  
    `[.':"~2N  
    精细度vs.涂层反射率 7h4"5GlO0  
    v$O%U[e<  
    )1>fQ9   
    内部谐振增强     *}t,:N;i  
    :\+;5Se+l  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 }NQ {S3JW  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 *EZ'S+wR  
    PTu~PVbp4  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 +$eEZ;4  
    #'qEm=%  
    VirtualLab Fusion技术 hJ+;N  
    SWX;sM  
     g|W|>`>  
     
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