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摘要 miqCUbcU \>k+Oyj
cw{[B%vw "dTXT Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 iSHl_/I< dW68lVWq_ 建模任务 _TF>c:m3 |e>-v
C"<@EMU9 具有高反射(HR)涂层的标准具 wt;aO_l oJ:J'$W(
c2/HY8ttRD ^EOjq 图层矩阵解算器 Y2n*T
KXI, G]CY3xw98
3FN? CN] O VWa(@A !4:,,!T 分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 -f=hL7NW 1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 Lw`\J|%p 2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 |sz9l/,lG 本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 -s"lW 7N^ 这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 8vK&d> PQ>JoRs 更多的信息:
2X_ef T!bu}KO 总结-组件 jL SZ#H x#D=?/~/Kv
"RLb wm~
7}k8-:a% g:U ul4 两条光谱线的可视化 ^> fs c3##:"wr
gZ3!2T> 精细vs.涂层反射率 WmA578|l! VzesqVx
"dOzQz*E n9fk{"y'G 精细度vs.涂层反射率 @d\F; o< )T?ryp3ev
/V&Y@j 内部谐振增强 tF|bxXsZ i7FEjjGtG 整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 a0R]hENC 请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 3>+;G4
$4&Ql 注意: 传输值取自艾里图案的中心 q<VhP2R DN+`Q{KS VirtualLab Fusion技术 {\B!Rjt[T w8qI7/
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