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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-06-28
    摘要 9G6ZKqum  
    c1i[1x%  
                               W\0u[IV.x  
    ODKh/u_  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 wAu]U6!  
    R-W.$-rF  
    建模任务     A>Qu`%g*  
    :{S@KsPqE  
    @6|0H`kv  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 )@U~Li/+  
    6NyUGGRq  
     T ;84Sv  
    qmPu D/ c  
    图层矩阵解算器 e\aW~zs 2  
    'S74Ys=-0  
     H/ ejO_{  
    -;6uN\gq  
    DfGq m-c  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 &)Zv>P8z`  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 Nk%$;Si  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 p|qLr9\A  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 hxJKYU^%m  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     uF3{FYM{I  
    B k\K G  
    更多的信息： h7.jWJTo  
    /_expSPHl  
    总结-组件 ]C+P J:CC  
    I5[@C<b  
    c>c4IQ&d  
     U4Y)Jk  
    X-bM`7'H  
    两条光谱线的可视化 J^DyhCs  
    :.BjJ2[S  
     dpge:Qhr  
    精细vs.涂层反射率 UWqX}T[^  
    ~z41$~/  
    e50xcf1u  
    `z/ p,. u  
    精细度vs.涂层反射率 Rm,>6bQx  
    J.g6<n  
    Q>\DM'{:4  
    内部谐振增强     FW3E UC)P  
    2.@IfBF6  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 eLHhfu;k  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 @kT@IQkri  
    kDR5kDiS  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 k $ SMQ6  
    wwR}h I(  
    VirtualLab Fusion技术 X$t!g`  
    A'u]z\&%c  
     XMI5j7C L  
     
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