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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-06-28
    摘要 |R4](  
    5g=" #  
                               W$y?~2  
    OA8pao~H  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 r=vE0;7  
    -Bc.<pFqp  
    建模任务     [4gv_g  
    9X-DR  
    _T1e##Sq,  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 w v1R ]3}  
    lm+wjhkN  
     ;J4_8N-  
    ,{%[/#~6  
    图层矩阵解算器 ?lTQjw{  
    hX^XtIC=  
     Ruf*aF(  
    EV}%D9:  
    {uw]s< 6  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 FIuKX"XR  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 bY`k`3v  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 DP?gozm  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 U_:/>8})d  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     </fzBaTo  
    zUOYH4+  
    更多的信息： iaMZ37  
    f}fM%0/5  
    总结-组件 ]UNmhF!W>u  
    !l}es4~.a  
    <|{=O9  
     4|~o<t8  
    ;2U`?"  
    两条光谱线的可视化 {P*RA'H3G  
    uQ{M<%K  
     iM\W"OUl[  
    精细vs.涂层反射率 )!0>2,R1  
    Z*k}I{0,-  
    ?&[`=ZVn  
    Ts.6 1Rx  
    精细度vs.涂层反射率 H#f FU  
    n|8fdiK#}  
    5y.kOe4vH  
    内部谐振增强     FvRog<3X  
    1vX97n<}  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 lK{h%2A\b  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 _- { >e  
    -ohqw+D  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 .(! $j-B  
    .}^m8PP  
    VirtualLab Fusion技术 . 8k9yk  
    ,}J(&  
     |TkO'QN  
     
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