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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-06-28
    摘要 _HQa3wj  
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    8Bvjj|~ (@  
    ^-_!:7TH]  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 ceCshxTU  
    ;Z*RCuwg  
    建模任务
    0^4*[?l9q  
    oSoG&4  
    4$"Lf'sH6  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 L"a#Uu8  
    |7-tUHMo[  
    "=;&{N~8U  
    k*Kq:$9"  
    图层矩阵解算器 :EjIV]e  
    hbK+\X  
    THJ+OnP  
    ln.~>FO  
    5a/)|  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 }!LYV  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 U#}.r<  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 (ni$wjq=z^  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 v\c3=DbO  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。
    gyK"#-/_d  
    Q7\Ax0  
    更多的信息: 3kMiC$  
    D-.>Dw:  
    总结-组件 , ]MX&]  
    c2nZd.SD|  
    /d4xHt5a  
    4$^=1ax  
    L0Cf@~k  
    两条光谱线的可视化 [Dhc9  
    U uys G\  
    rW^&8E[  
    精细vs.涂层反射率 SXL6)pX  
    K^S#?T|[9  
    'K1w.hC<  
    m3D'7*U  
    精细度vs.涂层反射率 7\xa_nrI  
    ziOmmL(r  
    wmIq{CXx,  
    内部谐振增强
    Y5 dt?a  
    -4]6tt'G  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 dw-r}Qioe  
    请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 ^o 5q- ;a  
    BK{8\/dg  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 4aRYz\yT=  
    ,P|PPx%@  
    VirtualLab Fusion技术 ?aCR>AY5X  
    A9#2.5  
    #k6;~  
     
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