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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-06-28
    摘要 Rg<y8~|'}  
    hnL"f[p@gC  
                               ujB:G0'r  
    Ia)wlA02S  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 f'Wc_ L)  
    56u'XMB?  
    建模任务     =r+u!~%@''  
    wED~^[]f  
    W>dS@;E  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 Y {Klwn   
    y&lj+j  
     B^U5= L[:p  
    EU ThH.  
    图层矩阵解算器 !#3#}R.$Fl  
    6 )0$UW  
     &k&tkE  
    ma~WJ0LM\  
    QYVT"$=  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 x_v pds  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 " FcA:7+  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 ~yt+xWV  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 $]\N/}1v  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     %whPTc0P  
    / !jd%,G  
    更多的信息： o&rejj#  
    V.'EP  
    总结-组件 PAH; +  
    @s2z/ h0H  
    |?V6__9  
     93)&  
    @]WN|K  
    两条光谱线的可视化 cliP+#  
    ;. !AX|v  
     qQ/j+  
    精细vs.涂层反射率 $4>K2  
    + ?*,J=/  
    zjM+F{P8  
    5Tb93Q@c  
    精细度vs.涂层反射率 `P)atQ  
    8NPt[*  
    #`); UAf  
    内部谐振增强     3tS~/o+]  
    KSqWq:W+  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 ?t'O\n)M  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 fseHuL=~  
    50l=B]M  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 (O,|1  
    epW;]> l  
    VirtualLab Fusion技术 b0tr)>d  
    'RTz*CSZ  
     d#vq+wR  
     
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