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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-06-28
    摘要 <1*kXTN(  
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                               CQ2vFg3+o  
    "AagTFs(i  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 x'L=p01  
    naR<  
    建模任务     #&.Znk:@.f  
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    具有高反射(HR)涂层的标准具 UV2W~g  
    ,NGHv?.N  
     Ae7FtJO  
    tl_3 %$s  
    图层矩阵解算器 DzR,ou  
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    Un]wP`  
    J|I*n   
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 f9#zV2ke]  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 & R_?6*n  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 ^t3>Z|DiB^  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 ~R;/u")@e  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     0PkX-.  
    wS=vm}}u  
    更多的信息： S]@;`_?m{  
    k[8F: T-  
    总结-组件 k' 8q /]  
    ug,AvHEnB  
    ir6aV|ea!  
     a6gw6jQ  
    -L/%2 X  
    两条光谱线的可视化 ?pIELezfK  
    #H7 SLQr\  
     wnC-~&+6  
    精细vs.涂层反射率 /rpr_Xw}  
    `!cdxKLR  
    &vmk!wAs  
    fuj9x;8X0  
    精细度vs.涂层反射率 K{d3)lVYCS  
    %ap]\o$^4  
    6],?Y+_;)L  
    内部谐振增强     "&H'?N%9Up  
    qoZi1,i'  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 h 8$.mQr  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 3!9JXq%Hl  
    ovN3.0tAI  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 fYuSfB+<  
    s=)W  
    VirtualLab Fusion技术 P?q HzNGi7  
    3chx 4  
     V06*qQ[  
     
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