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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-06-28
    摘要 |ni cvg@  
    COHJJONR  
                               WHNb.>  
    _O!D*=I  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 VBH[aIW  
    3Aj_,&X.@(  
    建模任务     .oK7E(QJ  
    u^]yz&9V  
    g rfF\_[:  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 ]~K&mNo  
    rmabm\QY  
     i;xg[e8.  
    JxLH]1b  
    图层矩阵解算器 KbUX(9+B  
    cbwzT0  
     3FXMM&w  
    d|o"QYX  
    pbzbh&Y  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 aJ}sYf^  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 K[kmfXKu  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 I !(yU  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 6AwnmGL(;;  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     I L\mFjZ'  
    SRD&Uf0M  
    更多的信息： #KK(Z \;  
    e{} o:r  
    总结-组件 f.f4<_v'h  
    PaDT)RrEM  
    d#d~t[=  
     vJCL m/}*  
    uLCU3nI  
    两条光谱线的可视化 j |i6/Pk9J  
    m[bu(qz  
     V8sY7QK=  
    精细vs.涂层反射率 <=-\so(  
    r{TNPa6!  
    _@p|A  
    0K2[E^.WN  
    精细度vs.涂层反射率 M[{Cy[ta  
    # R&[+1=9j  
    [T%blaSX  
    内部谐振增强     }dHiW:J>  
    - Q@d  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 kC k-  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 {S}@P~H =  
    q kKABow  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 Sy'>JHx  
    E\zhxiI  
    VirtualLab Fusion技术 4eEs_R  
    =_H39)|T  
     m#ie{u^  
     
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