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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-06-28
    摘要 BMX x(W]  
    ;'o>6I7Ph  
                          
    ["L?t ^*G  
    *;gi52tM  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 $^ >n@Q@&L  
    _R-#I  
    建模任务
    0]HK (,/h  
    nQ~q -=,L  
    H`io|~Q  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 xq~=T:>/A  
    / TJTu_#  
    &P+cTN9)  
    `7 B [<  
    图层矩阵解算器 v#/,,)m  
    ?1412Tq5  
    ,~4(td+R7  
    Ppp&3h[dW)  
    \Fj4Gy?MW  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 F H%yyT  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 A|a\pL`@  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 Ys3C'Gc  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 ?b7vc^E&  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。
    ix/uV)]k`  
    4%6Q+LS']Q  
    更多的信息: c`jTdVD  
    'V>+G>U  
    总结-组件 Wex4>J<`/  
    Anm5Cvt;i  
    34l=U?  
    X>B/DT  
    n&Tv]-  
    两条光谱线的可视化 4C[gW  
    W ][IHy<   
    Ip0Zf?  
    精细vs.涂层反射率 EPg?jKZava  
    q_K1L  
    i@;a%$5  
    g!QumRF  
    精细度vs.涂层反射率 He@= bLLa  
    a3)#tt=rA  
    x$p\ocA  
    内部谐振增强
    l00D|W_ 9  
    L7b{H2 2  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 H9Z3.F(2  
    请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 />oU}m"k  
    Af%?WZlOq  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 eyG.XAP  
    $k?L?R1  
    VirtualLab Fusion技术 t.TQ@c+,J  
    lu}[XN  
    %)e+w+  
     
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