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摘要 ke2'?,f
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89U<9j Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 Pj8s;#~u
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建模任务 '|G_C%,B E@7";&\-8
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具有高反射(HR)涂层的标准具 "+[:\
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图层矩阵解算器 c&e?_@} |
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分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 L/1?PM
1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 h$ _Wh(
2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 UsNr$MO
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本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 yrs sT?Qlj 'Zd ]m{;yOQdsC 总结-组件 BBm.;=8@ ^
-P]J:7*0?\
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 xO`w| k `^-?yu@ 两条光谱线的可视化 [#fXmW>N/ 5][ Rvu0
 )@RTU~# 精细vs.涂层反射率 ]0G OSh
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精细度vs.涂层反射率 43W>4fsc
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内部谐振增强 v(3nBZHv_! `o8b\p\zn 整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 Ka1
F7b 请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 i,NN"
 %np b.C|+
注意: 传输值取自艾里图案的中心 jJg9M'@2!
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VirtualLab Fusion技术 L}ud+Wfox
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