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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-06-28
    摘要 $9?cP`hmi  
    {Zp\^/  
                          
    j0@[Br%7  
    Web|\CH  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 sXNb}gJ  
    =y=cW1TG  
    建模任务
    !UFfsNiXZ  
    9cJH"  
    4DTzSy:x  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 N/GQt\tV<  
    ([xo9FP;  
    2B,] -Mu)  
    VN%INUi@  
    图层矩阵解算器 @)K%2Y`  
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    8uA,iYD  
    H{t_xL)k.  
    1Z,[|wJ  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 0q&'(-{s1  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 UUMtyf  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 @u1zB:  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 frBX{L  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。
    GIAc?;zY  
    lSH6>0#B  
    更多的信息: nJ" '  
    u<n Lag  
    总结-组件 i<(Xr  
    #0Tq=:AE>  
    z,|{fKtY}  
    F-*2LMe  
    owPm/F  
    两条光谱线的可视化 'ky b\q  
    pD&& l!i&[  
    r:]1 O*  
    精细vs.涂层反射率 1nu^F,M  
    j+HHQd7Y  
    P bQk<"J1  
    kkK kf'  
    精细度vs.涂层反射率 pBw0"ff  
    |^9BA-nA  
    *FJZi Py  
    内部谐振增强
    K!KMQr`  
    _ A 0w[n  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 F0690v0mB[  
    请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 `g,8-  
    Ldn8  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 ~i.k$XGA  
    VAXT{s&4>  
    VirtualLab Fusion技术 ?@n/v F  
    lq"f[-8a2q  
    D?Ux[Ozb  
     
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