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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-06-28
    摘要 _G.>+!"2/  
    .P MZX%*v  
                               !Y\D?rKZ  
    FWHNj.r  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 HAJ7m!P  
    pFHz"]  
    建模任务     (Yis:%c\!  
    q11>f   
    t{WzKy  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 rjPL+T_  
    FTQ%JTgT  
     8qEVOZjV&  
    frT]5?{  
    图层矩阵解算器 .b-f9qc=  
    Bxfc}vC.  
     d~`x )B(  
    mA*AeP_$  
    'Ub g0"F(  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 KFvQ  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 NZ-\h  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 !H irhD N  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 *EZHJt9  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     J~1r{5V4{  
    Ie`13 L2  
    更多的信息： eL\;Nf+Zp  
    3+G@g#MY  
    总结-组件 'b#0t#|TM  
    ]b%Hy  
    75T7+:p  
     },>pDeX^P  
    mqAWL:VvQ7  
    两条光谱线的可视化 v {jQek4  
    KOp162X>r  
     0\@dYPa&C  
    精细vs.涂层反射率 (h5'9r  
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    #&m0WI1  
    ]&i.b+^  
    精细度vs.涂层反射率 ;ml)l~~YU  
    u a~CEs  
    MV\|e1B}  
    内部谐振增强     3plzHz,x  
    p Wt) A  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 k-HCeZ  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 _`_%Y(Xat  
    `(f!*Ru@/z  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 A Q+]|XYo_  
    '6xQT-sUih  
    VirtualLab Fusion技术 C_n9T{k  
    S`"LV $8  
     ,^x4sA[/  
     
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