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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-06-28
    摘要 [C-4*qOaa2  
    rGDx9KR4K!  
                               ;n\$'"K&;  
    gfr+`4H>v  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 tEam6xNf,  
    DWwPid} "  
    建模任务     |O';$a1S  
    kfW"vI+d  
    3QF/{$65!  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 1OI/,y8}  
    UURYK~$K:  
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    Q1[3C(  
    图层矩阵解算器 63PSYj(y  
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    Y n7z#bu  
    )W,.xP  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 eYQPK?jo  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 3 BQZ[%0@  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 Wc HL:38  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 pf8M0,AY  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     P P-U.  
    nRHxbE}::  
    更多的信息： q]2t3aY%  
    GoUsB|-\  
    总结-组件 {9Ug9e{ ~  
    , G2( l  
    <p5?yF  
     E' _6v  
    UbDpSfub  
    两条光谱线的可视化 Ys@OgdS@:  
    X#Sgf|$  
     /UG]hJ-wn  
    精细vs.涂层反射率 !)4'[5t"U  
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    or qL0i  
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    精细度vs.涂层反射率 B{tROuN<  
    S&J>15oWM`  
    5q,ZH6\ {  
    内部谐振增强     OB4nE}NO  
    [[7=rn}@<  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 d=C&b]  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 8|) $;.  
    BVzMgn;  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心  7CwQmVe+  
    mJ>msI @  
    VirtualLab Fusion技术 JKTn  
    6PyW(i(bs  
     i4}+n^oSYo  
     
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