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摘要 O;[9_[ w>xV
Xl |1YX1&m 4*Z6}" Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 iP3Z 9^F2$+T[: 建模任务 <uP^-bv;( DZ
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m+$ @'TbP 具有高反射(HR)涂层的标准具 W&"|}Pi/ t j Vh^
]7AX%EG3 17g^ALs 图层矩阵解算器 Q}A=jew 02JL*
o**y Z2 FZpKFsPx io4A>>W==/ 分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 0m9ZQ
O 1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 qBk``!|s] 2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 fvo<(c#Y# 本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 24\gbv< 这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 P}3}ek1Ax YJ7V`Np 更多的信息: o5Rz%k#h &[|VZ[ 总结-组件 3mt%!}S 8_\W/I!7b
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ZX`J8lZP 1@sM1WMX 两条光谱线的可视化 ES:!Vx9t0| WNa0,
s0LA^2U 精细vs.涂层反射率 T*q"N?/4 ,35&G"JK5
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[2U vrl[BPI 精细度vs.涂层反射率 ,WTTJN KAA3iA@>+
;\)=f6N 内部谐振增强 uf) Oy7FQ Nofu7xiDw[ 整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 &y_? rH 请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 \x\.
:pKG\A 注意: 传输值取自艾里图案的中心 q7]>i!A CUmH,`hu VirtualLab Fusion技术 ]gd/}m)1 DR+,Y2!_GT
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