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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-06-28
    摘要 3IB9-wG  
    NffKK:HvBB  
                               w5 ]lU  
    pU'>!<zGr  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 B& R?{y*  
    -KH"2q  
    建模任务     m^3j|'mG  
    %e3E}m>  
    $#2<f 6  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 /e^) *r  
    vqO#Z  
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     ;Q4,I[?%  
    图层矩阵解算器 * fj`+J  
    CQ^(/B^c  
     DuDt'^]  
    pV_zePyOn  
    Uxik&M  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 -3azA7tzz  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 );6f8H@G  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 ~K99DK.  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 o0S 8ki  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     1 A0BM  
    BHYguS^qz  
    更多的信息： S<*IoZ?T  
    yjH'<  
    总结-组件 r]D U  
    y'I m/{9U  
    ?!/8~'xA6  
     -1d*zySL  
    c00rq ~<K  
    两条光谱线的可视化 +PI}$c-|`  
    gsM^Pu09ud  
     NA'45}fQ  
    精细vs.涂层反射率 G$&jP:2q  
    LL)t)  
    ",Vx.LV  
    SE@TY32T  
    精细度vs.涂层反射率 !Ko>   
    Mx`';z8~  
    d|7LCW+HW  
    内部谐振增强     Q^nf D  
    XM*5I 4V  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 g\@.qKF  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 "VSx?74q  
    5B2p_$W#  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 3&AJN#c  
    {6:*c  
    VirtualLab Fusion技术 As,e.V5!  
    ,+6u6  
     alHA&YC{K  
     
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