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摘要 .?rs5[th* 0<:rp]<,
V dvj*I X3 1%T" Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 H>D sAHS T59FRX 建模任务 2q]ZI 50dN~(;p
tK[o"?2y 具有高反射(HR)涂层的标准具 #'O9Hn({ ob8}v*s
wh8;:<| lz6CK
图层矩阵解算器 q+4dHS)x 7XT(n v
wl%ysM|x eaNfCXHDN G /$+e 分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 @{{L1[~:0 1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 I$S*elveG 2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 ={v(me0ZPb 本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 }5 n\us 这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 n^$Q^[:Z </
"Wh4>C 更多的信息: TghT{h@ wLiPkW 总结-组件 6W l%('5oz@\
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w8~R=k Nt]nwae>A 两条光谱线的可视化 6HJsIeQ 5#x[rr{^*
uPbdzUk$ 精细vs.涂层反射率 y{<js!au h5T~dGRlR
=jh^mD&' R\X;`ptT 精细度vs.涂层反射率 : O@(Sv 8+7*> FD)1
p<h( 内部谐振增强 -K$ugDi i;/;zG^=_ 整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 _t;^\"\ 请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 :-U&_%#w
#@w/S:KbJt 注意: 传输值取自艾里图案的中心 qhG2j; Z_dL@\#| VirtualLab Fusion技术 =`>ei G;#xcld
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