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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-06-28
    摘要 <Y)14w%  
    +`F(wk["m  
                          
    ;<i u*a  
    b()8l'x_|K  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 "W5MZ  
    g=td*S  
    建模任务
    'fn}I0Vc  
    z_'^=9m  
    Oem1=QpaC  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 l4RqQ+[KA;  
    x;[)#>.'  
    6Jgl"Jw8  
    ?,VpZ%Df2  
    图层矩阵解算器 `*U@d%a  
    yD<#Q\,  
    8fQ~UcT$  
    'N{1b_v?  
    l i<9nMZ<  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 `6rLd>=R  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 )nHMXZ>Td  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 "*zDb|v  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 3JD62wtx  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。
    _CNXyFw.7  
    Ps0 Cc_  
    更多的信息: iB0r+IbR  
    nWelM2  
    总结-组件 Z( :\Vj"  
    3~`\FuHHe  
    +Vg(2Xt  
    =F[M>o  
    *effDNE!  
    两条光谱线的可视化 Gh_5$@ hF  
    9{u/|,rq1  
    +!@xH];  
    精细vs.涂层反射率 7_Vd%<:  
    8+!G /p  
    v0r:qku  
    M]V j  
    精细度vs.涂层反射率 e|A=sCN-  
    ~H''RzN  
    ^Ip\`2^u  
    内部谐振增强
    ?o V.SG'  
    a\-5tYo`u  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 {{A=^rr%C  
    请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 9on$0  
    pz2E+o  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 s,-<P1}/  
    mmFcch$Jv  
    VirtualLab Fusion技术 GF9iK|i/  
    >CCy2W^W  
    mC ]Krnx  
     
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