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摘要 <Y)14w% +`F(wk["m
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u*a b()8l'x_|K Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 "W5MZ g=td*S 建模任务 'fn}I0Vc z_'^=9m
Oem1=QpaC 具有高反射(HR)涂层的标准具 l4RqQ+[KA; x;[)#>.'
6Jgl"Jw8 ?,VpZ%Df2 图层矩阵解算器 `*U@d%a yD<#Q\,
8fQ~UcT$ 'N{1b_v? l
i<9nMZ< 分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 `6rLd>=R 1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 )nHMXZ>Td 2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 "*zDb|v 本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 3JD62wtx 这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 _CNXyFw.7 Ps0Cc _ 更多的信息: iB0r+IbR nWelM2 总结-组件 Z(:\Vj" 3~`\FuHHe
+Vg(2Xt
=F[M>o *e ffDNE! 两条光谱线的可视化
Gh_5$@ hF 9{u/|,rq1
+!@xH]; 精细vs.涂层反射率 7_Vd%<: 8+!G/p
v0r:qku M]V
j 精细度vs.涂层反射率 e|A=sCN- ~H''RzN
^Ip\`2^u 内部谐振增强 ?o V.SG' a\-5tYo`u 整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 {{A=^rr%C 请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 9on$0
pz2E+o 注意: 传输值取自艾里图案的中心 s,-<P1}/ mmFcch$Jv VirtualLab Fusion技术 GF9iK|i/ >CCy2W^W
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