切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 930阅读
    • 0回复

    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线infotek
     
    发帖
    7208
    光币
    30181
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-06-28
    摘要 I7Uj<a=(q  
    O]/BNacS  
                          
    Y +[Z,   
    DqQ+8 w  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 A/xo'G  
    $@ R[$/  
    建模任务
     Ie<`WU K  
    dM^1O-K:  
    ruf*-&Kr7  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 gPA), NrN  
    $%%K9Y  
    -weCdTY`X  
    @ff83Bg  
    图层矩阵解算器 Z(gW(O9h.V  
    .&Q'aOg  
    k`u:Cz#aB  
    piy_9nk  
    D{Rk9MKkE  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 *pOdM0AE  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 BY&+fK ae  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 FK:Tni  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 >U2[]fu  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。
    9pPohR*#V  
    QE b ^'y  
    更多的信息: U> @st="  
    Zd Li<1P*d  
    总结-组件 BB)( #yoi  
    >bo_  
    XXe?@w2{  
    $Qc`4x;N  
    fz hCV  
    两条光谱线的可视化 ]a ,H!0i  
    "j<l=l!  
    lZI?k=rWv  
    精细vs.涂层反射率 :I)WSXP9h  
    Sj`GP p  
    u5LrZt]k  
    Js706  
    精细度vs.涂层反射率 c8"9Lv  
    >w}5\ 4j  
    3<L>BakD  
    内部谐振增强
    Y#A0ud,  
    i`F8kg`_K  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 : K#z~#n  
    请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 YgFmJ.1  
    Fhr5)Z  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 XLeQxp=  
    B,f4<  
    VirtualLab Fusion技术 n!Dy-)!`O  
    a#_=c>h;  
    /Mg$t6vM  
     
    分享到