关键词:光线追迹,高数值孔径,点列图,光斑尺寸 ybiTWM
THhxj) 1. 描述 ^(^P#EEG ■ 该案例中阐述了如何利用VirtualLab对一个具有高数值孔径的透镜系统进行分析。 se %#U40* ■ 我们将对焦面前和焦面上对三维光线结构和二维点列图进行讨论。 Hi={(Z5tC4 ■ 此外,VirtualLab可用于测量焦平面上的光斑尺寸。 LHA^uuBN}
d.+ 2. 系统 B1_9l3RM x
t-s"A 文件名:UseCase.0082_FocussingSystem.lpd
UxNn5(:sM@ 3. 透镜系统组件编辑 Q,5PscE6&k
VQpt1cK*
■ 在光路视图中双击透镜系统元件,可以显示元件编辑窗口。 aInt[D(
■ 透镜系统是由序列光学表面(OIS)定义的。 9<?w9D.1
■ 每一个可选项都有独立的参数,并可以设定。 k_]'?f7Z
■ 包括序列光学表面和光学介质。 Pg T3E
LSc^3=X :bct+J}l~ 4. 光线追迹系统分析器-选项 E7/UsUV. h@R n)D ]7_>l>
■ 分析器允许用户指定使用光源的光线选项。 qY8; k
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■ 可以选择选取光线的方法: }PK4
KRn
— 在x-y-网格 {mD0ug
— 六边形 &m