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摘要 3`RI[%AN~ -v|lM8 仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 Ts|;5ya5m {*r!oD!' <^'IC9D] m(EVC}Y 建模任务 \:'6_K ]2ycJ >w JsMN_%y? -)KNsW B[
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s?: 准直系统 k,8^RI07@ =UWW(^M#[: 4d}n0b\d Ke]'RfO\ 非序列追迹 %K06owV(S) ,S@B[+VZ zy8+~\a+Y& =NnG[#n% 总结—元件… ,_D@ggL- /F''4%S?E hx/A215L St>
E\tXp Ml{4)%~Y7f 0dI7{o;<| 系统光线追迹结果 #J8(*!I {0AlQ6.@> `Hv"^o aSJD'u4w.a 完美的减反射(AR)涂层 78<fbN5}r 5lM 3In@ :<0lC j cS@p`A7Tpo 有内部反射 [9Tnp]q 9 }42s + kE!ky\E
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