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摘要 SS,'mv 1b!5h 仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 e7U9"pk #:
,X^"w3 *OKve 0R,Y[).U 建模任务 [vCZD8"Y8 zjx'nK{eI xoE,3Sn
z]i/hU 0j'k%R[l 准直系统 jin?;v MP 8s} V3\}]5 !{oP'8Ax$ 非序列追迹 SY2((!n._ l{\@+m
n] n3/wpO YH!` uU(Lh 总结—元件… KH1/B_.\V ,rQPs Zxv{qbF /lvH p
;\+A6(GX{ Bk1gE(( 系统光线追迹结果 C?b_E s0'Xih sw6 \6Hu&WHy }*0*8~Q'5 完美的减反射(AR)涂层 en gh3TZC 7Rom#Kl: RFm9dHI27 K fNR)
有内部反射 JE+{Vx} L_7-y92<W
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