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摘要 .}5qi;CA ;t M 仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 #KNl<V+c}1 p, T4BO naM~>N Wecxx^vtv6 建模任务 W&k@p9 R.?PD$;_M |/ji'Bh
,^7]F"5 $<9u:.9xf 准直系统 b!e0pFS; (*b<IGi; XG!6[o; l3*GQ~m7 非序列追迹 a`8]TD ^ir)z@P?V
h$}PQ 7l ,f 总结—元件… {kBsiSvsA; fC3T\@(& r{B28'f[ ?"^{:~\N
c%WO#}r| ,"KfZf;? 系统光线追迹结果 &2U%/JqY ZJenwo :b*7TJ\grN 6)p8BUft 完美的减反射(AR)涂层 xticC> LR{bNV[i 4lWqQVx '6})L 有内部反射 AorY#oq Z#B}#*<C
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