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摘要 %2+]3h>g YsDl2P 仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 2u:j6ic )}aF=% W
| }Hl{} :tgTYIF 建模任务 ][mc^eI0s| ",+uvJT1O z~_\onC
b(VU{cf2d GwycSb1 准直系统
u0e#iX I6fpXPP). h.^DRR^S oGqv,[$qN 非序列追迹 #+G2ZJxL| +NY4j-O
Ss:,#| Ed-gYL^< 总结—元件… ^m=%Ctu# .R'i=D`Pz D^{:UbN O /&%`&2
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A|`wAGP yDC97#%3u 6~S0t1/t? {p
0'Lc<3n 完美的减反射(AR)涂层 aAM UJk q@9i3*q; r\d:fot q#`^EqtUF 有内部反射 =@ZtUjcJx R!,)?j;
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