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摘要 BU|)lU5)z ]Bs{9=2 仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 3Kq/V_ fcy4?SQ.<i rr>6; g ;XK3R 建模任务 ?)Je%H Df$~=A} {XV'C@B
uX%$3k [zSt+K; 准直系统 [;UI8Stw 5BK3ix*L uo;m C=2DxdZG 非序列追迹 <9c{Kt.5( ]@~%i=.7
"U$](k.<VA $LcMG,8%_ 总结—元件… X~/-,oV=A $GHi9aj_P 4vNH"72P PDLps[a
:B\$7+$v 1 |/ |Lq%w 系统光线追迹结果 ; P$ _:-C -$49l ;= 1[D
b$- g"F 完美的减反射(AR)涂层 e_g&L) d=
?lPEzSA 0uIBaW3s 3{$ >-d 有内部反射 4n1 g@A=y : %uaaFl
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