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摘要 dIfs8%kl _
kSPUP5 仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 .Lr)~ eo*u(@ xAd>",=~ _QMHPRELk 建模任务 Ril21o! j h;ol" &c<}++'h
9<(K6Q a[74%L? 准直系统 ZOrTbik jPYe_y q4.dLU,1 m~j\?mb{+ 非序列追迹 n@07$lY@; o&XMgY~
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A?;8%00 总结—元件… *n*N|6+
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7tfivIj)e 3gI[]4lRH 系统光线追迹结果 rTsbP40 3b?OW7H fr'huvc csdOIF 完美的减反射(AR)涂层 QLB1:O> # +QWi0B SA(U D CmJ?_> 有内部反射 ?lc[hH s7.p$r
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