-
UID:317649
-
- 注册时间2020-06-19
- 最后登录2025-08-04
- 在线时间1821小时
-
-
访问TA的空间加好友用道具
|
摘要 xkDK5&V ]oV{JR] 仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 Nf )YG! i4|R0>b AaYH(2m- $@'BB=i 建模任务 ?-)!dl%N ({j8|{)+ 5FR#CQ
~-zIB=TyK W\zZ&*8$ 准直系统 P'qBqx[ jV}8VK*`+ wvq4 P t\ oud{Cv 非序列追迹 Z|E9}Il] \+V"JIStUj
_!o8s%9be OlCqv-B2& 总结—元件… t/;0/ql\ F^gTID ! eZls ni2#20L
]Kq<U%x$ C Imp,k0 系统光线追迹结果 [bHm-X] ^Ye(b7Gd sg7h&<Xx 9\.0v{&v 完美的减反射(AR)涂层 N-upNuv gFp3=s0~ Yc]V+NxxQ V#w$|2 有内部反射 .hmeP
MK *gwaW!=
XA!a^@<H
|