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摘要 JdYF&~ +e]b,9.sR 仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 m',_kY3
S,tVOxs^ x5 ~E'~_ qCkg\)Ks5I 建模任务 Mjvso0zj !6/IKh`J =]xk-MY"|R
GN;XB b]w 5GFnfc} 准直系统 Q
fyERa\rb v8k^=A: QRHm|f9_C P_g0G#`4 非序列追迹 8Bt- {uM{5GSL
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Ng39D#_) Tc(v\|F, 系统光线追迹结果 nW%=k!'' :::f,aCAu * !Y3N<>! aw"%B-N\ 完美的减反射(AR)涂层 *g41"Cl wP':B
AQ4U KdpJ[[Ug/ &&S4x 有内部反射 [f(^vlK RcM0VbR"EU
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