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摘要 YhR"_ *dgNpJ 9 仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 5W-M8dc6 RL8wSK %*}f<k{6 Xh!Pg)|E 建模任务 bUL9*{>G xK 'IsMo[ TnAX;+u
feHAZ.8rp+ bd}SB -D 准直系统 pSUp"wch AW68'G*m NQ=YTRU H4jqF~ 非序列追迹
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Wno5B/V UlytxWkUX 总结—元件… `h6W@ROb =<xbE;,0 {Wo7=aR V;(LeuDH|
:B~c>: w.H+$=aK 系统光线追迹结果 [*t EHW =oJiNM5_u Y[4B{ g!ww;_ 完美的减反射(AR)涂层 OFv} jT lH.2H IIkJ"Qg. ev $eM 有内部反射 mZyTo/\0 1S.~-K*X
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