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摘要 DW@PPvfs Mw@T!)( 仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 _{&znXf>?6 i$)bZr\ d8Jy$,/`? Q,Vv 建模任务 q2 D2:0^ 2 ]y@8mb& -,Cx|Nl
EtJyI&7VK Wm4@+} 准直系统 T5NO}bz Rj9z'?a9 ex7zg! X>EwJ"q# 非序列追迹 /K2VSj3\ cu(2BDfiL
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W$ #FM$U 6#fl1GdH- 系统光线追迹结果 n;Tpf<*U |Y"q. n77 {&8-OoH ~
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o tjoM 完美的减反射(AR)涂层 AU} e^1h br+{23&1R# 4m$n Vv UvRa7[<y%% 有内部反射 {MU>5\ bKj#HHy\I
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