切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 586阅读
    • 0回复

    [技术]准直系统中鬼像效应的研究 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线infotek
     
    发帖
    6321
    光币
    25750
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-04-04
    摘要 nIKh<ws4z  
    b6Dve]  
    仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。
    hcwKi  
    Ll%[}C?~]?  
    |%we@ E  
    (B]rINY|  
    建模任务 quVTqhg"  
    A2g +m  
    KR%DpQ&{'  
    0Ocy$  
    M-"%4^8_  
    准直系统 j8L!miv6  
    XeKIue@_  
    ]xfu @''  
    LZ}C{M{=5A  
    序列追迹 E"nIC,VZ  
    z45ImItH  
    +|KnO  
    -6(C ^X%  
    总结—元件 ( n|PLi  
    @|idlIey  
    +r"{$'{^  
    }RDGk+x7|  
    j0~]o})@i  
    u4, p.mZtb  
    系统光线追迹结果 f3[gA Y  
    kR3g,P{L  
    S{7A3 x'B  
    (Xi?Y/  
    完美的减反射(AR)涂层 Zchs/C 9{  
    pMe'fC~*  
    "FwbhD0Gb  
    R6r'[- B2  
    有内部反射 Ux2(Oph  
    yn)K1f^  
    mw-0n  
     
    分享到