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摘要 'gso'&Uaj q,>?QBct* 仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 k1
-~ TX [%(ft o@bNpflb` 1|r,dE2k9 建模任务 LiQgR
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XW{>-PBg: FGWN}&K 总结—元件… (Rt7%{* bHLT}x/Gw 4(6b(]G'# WY^W.1X
@Jm7^;9/ ZF7IL 系统光线追迹结果 2*"Fu:a"`I 8to8!( zZcnijWb tE6!+c<7 完美的减反射(AR)涂层 D8&`R g_5Q A)4x <f CKUc J^R=dT! 有内部反射 o<IAeH {+ #mize
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