切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 933阅读
    • 0回复

    [技术]准直系统中鬼像效应的研究 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线infotek
     
    发帖
    7172
    光币
    30001
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-04-04
    摘要 =QsYXK7Mn4  
    h$*!8=M  
    仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。
    ww/Uzv  
    _Y!IEAU/#  
    *] (iS  
    he4(hX^  
    建模任务 *8Z32c+C  
    M_8{]uo  
    g5yJfRLxp  
    a =QCp4^  
    36NpfTW  
    准直系统 :%.D78&  
    l ,8##7  
    4z? l  
    m2o0y++TjW  
    序列追迹 hQ i2U  
    &o*A {  
    HDLk>_N_s,  
    0mnw{fE8_  
    总结—元件 ;fJ.8C  
    /\Ef%@  
    E3i4=!Y  
    Y} /-C3)  
    +H.`MZ=  
    #jk_5W  
    系统光线追迹结果 rc{v$.o0  
    liZxBs :%i  
    s>en  
    d@^ZSy>L2  
    完美的减反射(AR)涂层 R2;  
    O}P`P'Y|'  
    hc1N ~$3!G  
    8QK&_n*  
    有内部反射 ;,TFr}p`  
    "z c l|@  
    sS Mh`4'  
     
    分享到