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摘要 z:7
i@m b|'{f? 仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 aViZKps`m xP61^*-2 a\@k5? dbG5Cf#K\ 建模任务 +IkL=/';# -Y=o ~p* \|YC
QRL+-)DMc c ?(X(FQ 准直系统 bnYd19> bAVlL&^@| h:3^FV LeTOVgjA| 非序列追迹 ~(~
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X<*-d6?gD` 4/J"}S 总结—元件… pX LXkF? |[B JZ .s8u?1b EjDr
E# UAC2Q /ho7O/aAa 系统光线追迹结果 "t!_bma :5,
k64'D P'<D0 W0qn$H 完美的减反射(AR)涂层 Hph$Z1{ 'irHpN6n XRx^4]c aP}30E*Y 有内部反射 .wvgHi r0L'
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