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摘要 D Kq-C% VW~Xbyf 仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 a-:pJE.'p ozuIwzi7N EzUPah A-;^~I 建模任务 U&s(1~e\ );!dg\U Z>&K&ttJ
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P 准直系统 %pqL-G Q~b_dx{m $^ubo5% LjCykk 非序列追迹 w~n kNqm n{3|E3
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69rwX"^ r.9 $y/5 系统光线追迹结果 J7_8$B-j7 {aT92-D3 M{G$Pk8[ dbg|VoNf 完美的减反射(AR)涂层 rrYp'L 9X.gg$P _m" ^lo Na-q%ru 有内部反射 e`vUK.UoW yTP[,bM
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