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摘要 e+[*4)Qfy n ay\) 仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 uF7vba$ O=0p}{3l 'oa.-g 5 72<9xNcB!} 建模任务 Wg-mJu( RNT9M:w N1 t4o~
tr0b#4 "#d$$ 8 准直系统 =M\yh,s! S:xXD^n#H BZeEZ2" {*_Ln 非序列追迹 aHhLz>H' A(y6]E!
X5)D [aE6 pS?D~0Nb 总结—元件… Ia2WBs= }+,Q&]>~ uo:RNokjJ e@'x7Zzh
j*%#~UFw @2Z|\ojJ 系统光线追迹结果 wT@Z|.) 9ihg[k ql?w6qFs] <a R 完美的减反射(AR)涂层
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ZD Kzev] er b_+o1Zy` 有内部反射 NEBhVh
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