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摘要 {<~s&EPd ?n73J wH 仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 t2m ^ ws na5D6i
5auL<Pq ?|gGsm+ 建模任务 .v$ue` <w%Yq?^ E)RI!0Ra
Sk!v,gx aB7d( 准直系统 Zu)i+GeG ?Of{c,2 . zl,bMtQ |ORmS&7 非序列追迹 he_HVRpB 8rnb
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td {Nzmb|& 总结—元件… EgkZ$ah zS,%msT^A 'JJ1#kKa %kaTQ"PB
tOu90gu q\-xg*' 系统光线追迹结果 ^p'D <!6sK a-SB1-5jf |F8;+nAVF# ".Tf<F 完美的减反射(AR)涂层 ]JGKL5~p Q';\tGy ,S7~=S #mi0x06 有内部反射 P6.) P|n7= 6kgCS{MZ
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