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摘要 "y5LojdCs 8rXQK|A 仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 P%nN#Qm yH:gFEJ:x ([+u U! jH4'jB 建模任务 }5I+VY7a iFi6,V*PRt b;AGw3SF
6(9S'~*'R o;#9$j7QP! 准直系统 B>!OW2q0D Oosr`e@S H`XE5Hk)P% -76l*=| 非序列追迹 ,o\-'
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m&36$>r= ^#Ruw?D 总结—元件… kg@Okz N% o(w xu) I<["ko,t@? "B^c
Z%t"~r0PS %( tu< 系统光线追迹结果 yGN2/>] &/}reE* Ns*&;x9 qMj'% 5/ 完美的减反射(AR)涂层 lebwGW,! 6H)T=Z| X,Q'Xe/ m,TN%*U! 有内部反射 :MIJfr>z 2(<2Gnpl
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