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摘要 <1"6`24 Ys\l[$_`*
仿真技术的主要作用之一是提供一个平台，以便在系统制造之前研究系统的性能，以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一，杂散光可能有多个来源，其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中，我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在，我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散)，并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 P)T :6K '?QZ7A  JL <}9K #pf}q+A 建模任务 {MIs%w.G NY_Oo!)3  /q]WV^H
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FrB19 非序列追迹 LG;xZQx'
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 2-8<uU y ~!UxmYgO 总结—元件… nwz}&nR ;]p#PNQ0  nHA2p`T
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