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仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 Om\vMd@! Ya"a`ozq /nNN,hz f}f9@>. 建模任务 ,m:.-iy? AjMh,@ E,U+o $
h(_57O: 5x4yyb' 准直系统 E
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yI :>f )g 系统光线追迹结果 {qJ1ko)$ ag[wdoj F_{Yo?_ oQVgyj. 完美的减反射(AR)涂层 A[{yCn`tM u^I|T.w<r6 ZG8DIV\D7 YZ8>OwQz2 有内部反射 eJX9_6m- ^A&1^B
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