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仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 :Gz# 4k y3O Nn~k /M "E5 j\SW~}d9 建模任务 *AU"FI>V a/wkc*}}/ }3Y3f).ZW
pMX#!wb 5Y8/ZW~D0 准直系统 6A& f d>Z{TFY 1=t\|Th- RZ[r XV5 非序列追迹 #?z1cgCg ,e
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