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仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 On~KTt3Mp + 9|0\Q 3 yb]d5:U ~x/ka43 建模任务 =M4:nt Wa.xm_4s2 ;|oft-y
+WR?<*_ 8!!h6dQgI 准直系统 f=Pn,.>tIz *` wz !l0"nPM= fe`_0lxj 非序列追迹 7RBEEE`) r-!Qw1
<-b9
)> 3h>L0 总结—元件… 1 n&%L8] %HtgZeY ?E+f<jol RPf <-J:t
Y@#N_]oXj <)~-] 系统光线追迹结果 `{h)-Y`` B0)|sH p4k}B. f Ee7+ob 完美的减反射(AR)涂层 GH-Fqz IvkYM`% 1:^Xd~X WwZ3hd 有内部反射 Z'2AsT pg7~%E4
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