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仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 an$]IN :|n>H+Y ?RRSrr1 |
Q1ubS 建模任务 Wvut)T h9Tf@]W
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zCGmn& *M =XacG}_ 系统光线追迹结果 M k'n~.mb 0'V- skR,M=F~ s!j(nUd/ 完美的减反射(AR)涂层 RK~FT/ r.a9W?(E 0'q(XB`i= +9Hk+. 有内部反射 [KimY
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