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仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 7zowvE?# tHr4/
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EP 建模任务 G\~?.s|^ E,Xl8rC ('o}EoXS
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wP 准直系统 ;/)$Cm &e @S6@pMo, C*
0ZF 7R,;/3wWjG 非序列追迹 A.~wgJDO !=u=P9I
Ve<f} Q(4~r+ 总结—元件… o[q|dhrANh gLK0L%"5 tqjjn5! }]^/`n
xE!b) @>S -C* 6>$A 系统光线追迹结果 L^K,YlNBR DQ c pIV ant2];0p BnaI30- 完美的减反射(AR)涂层 {Q@?CT p$` ^A =)a%,H $'yWg_( 有内部反射 J|VDZ# c7 >:BgatyPH
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