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仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 j\2[H^
/1.rz{wpb vrIV%l= N}QFGX 建模任务 L.)yXuo4 ti_u!kNv BQNp$]5s
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A3yi?y{[* |uUuFm 总结—元件… F(4yS2h( Zu#< DY3:#X`4 p;->hn~D'5
#7W.s!#}Dd -9&g[ 系统光线追迹结果 NMXM[Ukb vm}G[ yT:!%\F9 ^H=o3#P~L 完美的减反射(AR)涂层 3$_2weZxYn fVUKvZ}P* 0k1MKzi Q K&S@F!#g 有内部反射
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