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仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 Lv_6Mf( |]I?^:I klx4Mvq+/@ {?j|]j 建模任务 G;^iwxzhO 4bJ3uIP# WUHx0I
P, Vq/Tt F*NIs:3; 准直系统 pw$I~3OFd 7C 4Njei" f?{Y<M~] F.\]Hqq 非序列追迹 nTHP~] qGh rJ6R!
;=n7 Z 3'']q3H 总结—元件… ,O-lDzcw !?+3jzG f9&D1Gh+w Q \{\uJ x
"~+K`*0r8 '@:;oe@] 系统光线追迹结果 L@2H>Lh35 '/"( `f, IBuuZ.=j2h T2Vj&EA@ 完美的减反射(AR)涂层 +(P;4ZOmB A l` ;SWN {#;6$dU;( SOUA,4 有内部反射 Ti'O 2k +V'Z%;/
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