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光学测量>显微 E&w7GZNt gVuFHHeUz 任务/系统视图 }>|s=uGW Q{>k1$fkV RP|`HkP-2 MN>b7O \.? 亮点 = svN#q5s Ix}sK"}[n 7A7?GDW JR|ck=tq 显微镜系统中光栅的全矢量分析 372rbY 在几秒钟内对复杂系统进行快速高性能分析 N~gzDQ3 光线追迹和物理光学建模之间的简单切换 :OZrH<SW t?gic9
q 说明:光源 r5/0u(\LB s8Q 5ui] f~[7t:WD* gJ{)-\ ?^{Ah}x P+sW[: 说明:透镜系统 kTB0b*V }8z?t:|S D_7,m%Z: 说明:样品结构 $PPi5f}HD >=>2m2z= l)\! .X (t|Zn@uY 说明:探测器 "sCRdx]_ 5qm`J,~k ^
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TdMruSY `h\j99 结果:3D光线追迹 L*+@>3mu) ^CX6&d 3
i0_hZ +'a^f5 P@B] kzLsoZ!I 结果:光线追迹 ND;#7/$> LL!Dx%JZ 4$<JHo
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teF9Q+*~ KpGhQdR# eMsd37J 结果:场追迹采样平面 FZlWsp= r19
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