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光学测量>显微 fGWK&nONyk !r0P\ 任务/系统视图 ]X|G+[Ujv V<pjR@ S]/+n> C
P{h+yCj 亮点 )1
j2 c (8J Vnb#N4vR |R/50axI 显微镜系统中光栅的全矢量分析 L(8dK 在几秒钟内对复杂系统进行快速高性能分析 F
&}V65 光线追迹和物理光学建模之间的简单切换 Z"+!ayA7D cSk}53 说明:光源 K.m[S[cy /z:K# @ R Bw T X-FHJ4 7*"LW N@0scfO6< 说明:透镜系统 h
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X"l 说明:样品结构 zUqDX{I8 ht9b=1wd%s $8r:&Iw 3k^jR1 说明:探测器 ?9TogW>W 64fG,b EdpR| z 6u7wfAf
3IFU{0a` q|J] 结果:3D光线追迹 _yUFe& P7-3Vf_L >`'9V|1 Kx0dOkE `f]O ]EQ/*ct 结果:光线追迹 T1=M6iJ ,qB081hPG D9en |e&Kg~~C 结果:光线追迹衍射级数 F}>`3//u (xL=X%6a |=s3a5sl $ cSZX#\ 结果:场追迹采样平面 J~.kb k Jiq[VeLe %R"Fx$tQ ez{&Y>n 结果:场追迹焦平面 Lt_]3go X)m2{@v D }R$%MU5:: 4NV1v&" 结果:减小光栅周期 -;}Wm[
Gj 3/&'k6 随着光栅周期的减小,光栅结构不能被分辨。 ~55>uw< &&O=v]6,V
Xl;N=fc ZV;yXLx| x5ia<V>=d Kl? 1)u3^4 =xoTH3/,>
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