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光学测量 > 干涉测量 5KL9$J9k s_S<gR 任务/系统说明 j|^-1X ZXFAuF
p?J~' kX ~-g 亮点 XgwMppacw { r<(t#
lWu9/r 1 w>`h3;,2 •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; ]7XkijNb •对相干效应以及干涉图样的高速仿真; h|(ZXCH M<SbVP|V" 具体要求:光源 ``2QOu 1 }}4sh5z u7<qaOzs? Q:-%3)g<< 具体要求:用于准直的消色差透镜 xA[Wb' BR&Qw'O% IGh !d?D s2(w#n) I,C AFq I =tyQ` []2$rJZD9 pJ2:` f<; 具体要求:分束器 AHp830\ z*NC?\ 8%vh6$s6/ hJC
p0F9O 具体要求:参考光路反射镜 c {f:5 p T!^?d5uW# TQOg~lH S|RpA'n
gW6G+ !i~x"1 具体要求:测试光路反射镜 |1<]o;: D^N#E>, Oet#wp/I !TV_dKa 具体要求:探测器 :XPC0^4s Y^94iOk%T 4BduUH O$<%z[ 结果:3D光线追迹 z'\}/k+ |&0"N[t Y?&DEKFbD m! '1$G 结果:场追迹 I\Gp9w0f 1a=9z'8V
Wd^F%)( bCE7hutl 结果:移动样品的场追迹结果 ]JqkC4| #iRyjD *1o+o$hY2 通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 T$.-{I
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