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光学测量 > 干涉测量 Ve9*>6i&-4 ?.~hex#M@ 任务/系统说明 KB5<)[bs
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r"hogmFD; •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换； 9NEL[J| •对相干效应以及干涉图样的高速仿真； &57s //PrX
k.6gX < T 具体要求：光源 \1f&D!F]b %SC%#_7  &fRZaq'2R EHlkt,h* 具体要求：用于准直的消色差透镜 V+>.Gf p->b Vt ; hZ^zL  ;NPbEPL[5 *V[6ta' @3Nvf}He  ~ \o
hH O!ngQr I 具体要求：分束器 5~H}%W,P iji2gWV}h  | HfN<4NL
I%'6IpR"d 具体要求：参考光路反射镜
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lEr_4!h$rZ 具体要求：测试光路反射镜 k3VRa|Y") ]s>y se  YJqbA?i
P0O=veCf 具体要求：探测器 8=DZ; ]XD. w<$0n#5  ~0T,_N b U{lV<R, 结果：3D光线追迹 2E_d$nsJ <-s5
;xwtS  " ,>,t_J g"|/^G_6S 结果：场追迹 GI[XcK^*w nmy!.0SQ-
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.:A&5Y- 结果：移动样品的场追迹结果 ?D9>N'yH8 N*6lyFcg  x!;;;iS 通过扫描样品的轴向位置，可以研究出样品的形貌。 vf/|b6'y
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