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光学测量 > 干涉测量 {%6`!WW[ OX\F~+ 任务/系统说明 dL
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t |A-9^t'! WbqWG^W 亮点 y;@:ulv[ ,]c
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3"KCh\\b [Nbm|["q~ •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; (mt k 4 •对相干效应以及干涉图样的高速仿真; )gy!GK j^rIH#V 具体要求:光源 cJ
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C !^Y(^RS@ 具体要求:用于准直的消色差透镜 =h73s0] tS8u B%+T2=&$7 V-L"gnd&2 MfQ?W`Kop )+t0:GwP`: 2u*KM`fa` m#Z#
.j_2 具体要求:分束器 H@8sNV/u A` o8'+`C FZE"7ec>m mk+B9?;cF- 具体要求:参考光路反射镜 Jidwt$1l( !6Mo]xh o.\F.C$ VUR |OV%
Jd^,] .O}% 具体要求:测试光路反射镜 rK]Cr9W M eHNyNVz :mn>0jK,N x-.?HS[ 具体要求:探测器 _1 !OlQ 56-dD5{hxR uurh??R d8=x0~7 结果:3D光线追迹 {w^+\]tC mg.kr: &/]Fc{]^$f G@jZ)2
结果:场追迹 (uZ&V7l mahJSz(3
Bj-:#P@ @Y<bwv 结果:移动样品的场追迹结果 v"XGC i91L >!bJslWA @{tz:f 通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 ?8Z0Gqt74
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