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    [技术]用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-03-16
    光学测量 > 干涉测量 5KL9$J9k  
    s_S<gR  
    任务/系统说明 j|^-1X  
    ZXF AuF  
    p?J~'  
    kX ~-g  
    亮点 XgwMppacw  
    { r< (t#  
    lWu9/r 1  
    w>`h3;,2  
    •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; ]7XkijNb  
    •对相干效应以及干涉图样的高速仿真 h|(Z XCH  
    M<SbVP|V "  
    具体要求:光源 ``2QOu 1  
    }}4 sh5z  
    u7<qaOzs?  
    Q:-%3)g<<  
    具体要求:用于准直的消色差透镜 xA[Wb'  
    BR&Qw'O%  
    IGh !d?D  
    s2(w#n)  
    I,CAFq  
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    []2$rJZD9  
    pJ 2:` f<;  
    具体要求:分束器 AHp830\  
    z*NC?\  
    8%vh6$s6/  
    hJC p0F9O  
    具体要求:参考光路反射镜  c{f:5 p  
    T!^?d5uW#  
    TQOg~lH  
    S|RpA'n  
    gW 6G+  
    !i~x"1  
    具体要求:测试光路反射镜 |1<]o;:  
    D^N#E>,  
    Oet#wp/I  
    !TV_dKa  
    具体要求:探测器 :XPC0^4s  
    Y^94iOk%T  
    4BduUH  
    O$<%z[  
    结果:3D光线追迹 z'\}/k+  
    |&0"N[t  
    Y?&DEKFbD  
    m! '1$G  
    结果:场追迹 I\Gp9w0f  
    1a=9z'8V  
    Wd^F%)(  
    bCE7hutl  
    结果:移动样品的场追迹结果 ]Jq k C4|  
    #iR yjD  
    *1o+o$hY2  
    通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 T$.-{I  
     
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