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    [技术]用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-03-16
    光学测量 > 干涉测量 {%6`!WW[  
    OX\F~+  
    任务/系统说明 dL )<% o  
    vTw>JNVI  
    t |A-9^t'!  
    WbqWG^W  
    亮点 y;@:ulv[  
    ,]c 1A$Sr0  
    3"KCh\\b  
    [Nbm|["q~  
    •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; (mtk 4  
    •对相干效应以及干涉图样的高速仿真 )gy!GK  
    j^rIH#V   
    具体要求:光源 cJ @Wt>YI  
    w %BL  
    /{--+ C  
    !^Y(^RS@  
    具体要求:用于准直的消色差透镜 =h73s0 ]  
    tS8u  
    B%+T2=&$7  
    V-L"gnd&2  
    MfQ?W`Kop  
    )+t0:GwP`:  
    2u*KM`fa`  
    m#Z# .j_2  
    具体要求:分束器 H@8sNV/u  
    A`o8'+`C  
    FZE"7ec>m  
    mk+B9?;cF-  
    具体要求:参考光路反射镜 Jidwt$1l(  
    !6Mo]xh  
     o.\F.C$  
    VUR|OV%  
    Jd^,]  
    .O}%  
    具体要求:测试光路反射镜 rK]Cr9WM  
    eHNyNVz  
    :mn>0jK,N  
    x-.?HS[  
    具体要求:探测器 _1!OlQ  
    56-dD5{hxR  
    uurh??R  
    d8=x0~7  
    结果:3D光线追迹 {w^+\]tC  
    mg.kr:  
    &/]Fc{]^$f  
    G@jZ)2  
    结果:场追迹 (uZ&V7l  
    mah JSz(3  
    Bj-: #P@  
    @Y<bwv  
    结果:移动样品的场追迹结果 v"XGCi91L  
    >!bJslWA  
    @{tz:f  
    通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 ?8Z0Gqt74  
     
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