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    [技术]用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-03-16
    光学测量 > 干涉测量 r 3?5'S`  
    |:/ @t  
    任务/系统说明 +E `063  
    "rf\' 9=  
    &U8 54  
     -ca]Q|m8  
    亮点 B=^2g}mgK  
    /$<JCNGv  
    %Ln?dF+  
     vLD:(qTi  
    •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换； <vO8_2,V-  
    •对相干效应以及干涉图样的高速仿真； P'gT6*an,"  
     b^;N>zx  
    具体要求：光源 s2 wwmtUCN  
    #SK#k<&P  
    Ds;Rb6WcnY  
    dcM+ylB  
    具体要求：用于准直的消色差透镜 i"ck`6v"8  
    )lE3GDAPgZ  
    8o%E&Jg:  
    upZYv~Sa  
    B44]NsYks~  
    \qRjXadj  
    R20a(4 m  
    /{49I,  
    具体要求：分束器 -aTg>Q|g&  
    `*|LI  
    P] {B^,E  
     G >I.  
    具体要求：参考光路反射镜 44g`=o@  
    XtnIK  
    x Q@&W;  
    vK[v eFH  
    WX+< 4j  
     F%Ro98?{  
    具体要求：测试光路反射镜 {^2({A#&  
    1"*Nb5s  
    "`y W]v  
     E5v|SFD  
    具体要求：探测器 5EVB27k  
    x)%% 5  
    uKaf{=*  
     -fx(H+  
    结果：3D光线追迹 6~>^pkV  
    KE }o  
    K gR1El. r  
    gs^UR6 D,  
    结果：场追迹 ^F;Z%5P=  
    0e[ tKn(  
    D>!v_v6  
     =[v2   
    结果：移动样品的场追迹结果 s\F EA"w/  
    s8/ozaeo  
    Cb!`0%G  
    通过扫描样品的轴向位置，可以研究出样品的形貌。 Y2ah zB  
     
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