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    [技术]用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-03-16
    光学测量 > 干涉测量 JU4<|5H  
    $P >  
    任务/系统说明 n2"a{Ofhlf  
    qJf?o.Pv  
    KaLzg5is  
    HDz5&7* .  
    亮点 +r�  
    prUN)r@U   
    #>a\>iKQ2q  
    I }a`0Y&{  
    •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; pE3?"YO  
    •对相干效应以及干涉图样的高速仿真 3p$?,0ELH  
    Oz75V|D  
    具体要求:光源 =1@u  
    ,5P0S0*{  
    s-NX o  
    >1X|^  
    具体要求:用于准直的消色差透镜 xS5vbJ  
    9sM!`Lz{  
    +X\FBvP&  
    ,X?{07gH  
    P7ao5NP  
    {Ea b j  
    [DYQ"A= )d  
    "-M p_O]  
    具体要求:分束器 ;_XFo&@  
    ,Y@Gyx!4  
    L@rcK!s,lD  
    av(6wht8  
    具体要求:参考光路反射镜 HRpte=`q  
    xW+6qtG`  
    ImA @}:  
    `](e:be}  
    m%0p\Y-/  
    ~kV/!=  
    具体要求:测试光路反射镜 Do9x XK  
    YByLoM*  
    0RzEY!9g+  
    W PC]%:L"  
    具体要求:探测器 ),_@WW;k  
    S0$8@"~=  
    "6A ` q\  
    |o7[|3:M  
    结果:3D光线追迹 [=C6U_vU  
    g/4[N{Xf  
    O/^ %2mG  
    ^ G]J,+  
    结果:场追迹 pG_;$8Hc  
    ]iVcog"T  
    aI'&O^w+  
    ^ "E^zHM(  
    结果:移动样品的场追迹结果 {.`vs;U  
    Od,=mO*.Q  
    "%)qRe  
    通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 SV4E0c>  
     
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