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光学测量 > 干涉测量 4"0` J JVU:`BH 任务/系统说明 m39 `f,M
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TR]~r2z 亮点 +oeO 0
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oC" c%e8 •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换； F+|zCE c •对相干效应以及干涉图样的高速仿真； Wn< 3|`c
EG2NE,,r 具体要求：光源 _yumUk-QW eXUXoK=T  //Ck1cI#h hQvSh\p 具体要求：用于准直的消色差透镜 6 I"Q9( 6;k#|-GU& * 3WK`9q  x) h5W+$ Z25^+)uf*U Ag^Cb'3X  (pNA8i%= G ng^`s}?o 具体要求：分束器 Rcfh *"k s9?klJg  W/OZ}ky}^
'/G.^Zl9 具体要求：参考光路反射镜 CQ9 B;i` x~rIr#o  $d'GCzYvZ
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|]w0ytL>(2 具体要求：测试光路反射镜 q ;1]M[& xQT`sK+  a 39Kl_\
UB|f{7~& 具体要求：探测器 HeCQF =R <p;cR` %uE  ;Z\ jX[H !c(B c^ 结果：3D光线追迹 7;ZSeQ yC |t5K!?{i  0 .Pd,L( X!KjRP\\ 结果：场追迹 ;9MsV. n Pfj{TT.#L
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yS% IE>? 结果：移动样品的场追迹结果 -SnP+X! I@76ABu^  h(*!s`1 通过扫描样品的轴向位置，可以研究出样品的形貌。 t:X\`.W
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