-
UID:317649
-
- 注册时间2020-06-19
- 最后登录2025-09-29
- 在线时间1866小时
-
-
访问TA的空间加好友用道具
|
光学测量 > 干涉测量 K4h-4Qbn yi
AG'[ 任务/系统说明 !%Z)eO~Z 6ywnyh
'0])7jq q>D4ma^ 亮点 ,N))=/ Kdryl
&2P:A Hm.&f2|( •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; "2vNkO## •对相干效应以及干涉图样的高速仿真; )DklOEO $,z[XM&9) 具体要求:光源 hX'z]Am< [pRVZV 3;t@KuQ66 (:j+[3Ht 具体要求:用于准直的消色差透镜 N$ qNe'b n}ZBU5_ ||*&g2Y @2%VU#!m 8IT_mjj C,VqT6E< ~q#[5l(r8 6>LQGO 具体要求:分束器 [X$|dOm'N lo>-}xd ]'1N_m]? [#
tT o;q 具体要求:参考光路反射镜 @LkW_ 0N3tsIm> L[QI 5N 56O<CgJF<
sGDrMAQt WW8L~4Zy 具体要求:测试光路反射镜 n/-p;#R A
Eyr_!G, 79c 9+ ,<
)/45 具体要求:探测器 $U"P+ *`pec3" e G*s1uQl G(Idiw#WT 结果:3D光线追迹
:[X}.]" ;t@ 3Go 7,&]1+n 5f^`4pT 结果:场追迹 \.{pZMM 5@%=LPV
)8N)Z~h w4<u@L 结果:移动样品的场追迹结果 7PQj7&m -~Z@, xUYN\Pc- 通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 M'!!EQo
|