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    [技术]用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪 [复制链接]

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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2023-03-16
    光学测量 > 干涉测量 K4h-4Qbn  
    yi AG'[  
    任务/系统说明 !%Z)eO~Z  
    6ywnyh  
    '0])7jq  
    q>D4ma^  
    亮点 ,N))=/  
    Kd ryl   
    &2P:A  
    Hm.&f2|(  
    •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; "2vNkO##  
    •对相干效应以及干涉图样的高速仿真 )DklOEO  
    $,z[XM&9)  
    具体要求:光源 hX'z]Am<  
    [pRVZV  
    3;t@KuQ66  
    (:j+[3Ht  
    具体要求:用于准直的消色差透镜 N$ qNe'b  
    n}ZBU5_  
    ||*&g2Y  
    @2%VU#!m  
    8IT_mjj  
    C,VqT6E<  
    ~q#[5l(r8  
    6>LQGO  
    具体要求:分束器 [X$|dOm'N  
    lo>-}xd  
    ]'1N_m]?  
    [# tT o;q  
    具体要求:参考光路反射镜 @LkW_  
    0N3tsIm>  
    L[QI 5N  
    56O<CgJF<  
    sGDrMAQt  
    WW8L~4Zy  
    具体要求:测试光路反射镜 n/-p;#R  
    A Eyr_!G,  
    79c9 +  
    ,< )/45  
    具体要求:探测器 $U"P+  
    *`pec3"  
    e G*s1uQl  
    G(Idiw#WT  
    结果:3D光线追迹 :[X }.]"  
    ;t@ 3Go  
    7,&]1+n  
    5f^`4 pT  
    结果:场追迹 \.{pZMM  
    5@%=LPV  
    )8N)Z~h  
    w4< u@L  
    结果:移动样品的场追迹结果 7PQj7&m  
    -~Z@,  
    xUYN\Pc-  
    通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 M'!!EQo  
     
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