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光学测量 > 干涉测量 @K9T )p] cabN<a
l 任务/系统说明
q0~_D8e, xeI{i{8
:3B\,inJ ]c)SVn$6 亮点 `9ox?|iJ ca=e_sg
|6>_L6t FT~^$)8= •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; 5)UmA8"zVB •对相干效应以及干涉图样的高速仿真; }>0
Kc= K(gj6SrjV 具体要求:光源 +]-KzDsr"V L|X5Ru Z=0W@_s R~~rqvLm 具体要求:用于准直的消色差透镜 rg,63r uNbA>*c4M yr>bL"!CA H#inr^Xa GcR`{ 3hO 4*x!B![]y X}(0y
5-^%\?,x 具体要求:分束器 >K
:"[? ~-5@- V Jdn*?hc+ yf) `jPM1< 具体要求:参考光路反射镜 >|)0Amt %z~U@Mka h
'[vB^ n5.>;N.*
!dY:S';~ kA__*b}8UK 具体要求:测试光路反射镜 FRFAWK< cO,V8#H 'c&@~O;^d C8E C?fSQ 具体要求:探测器 f_ztnRw }4SSo)Uv/ 8[)]3K x = O1;vc}AA 结果:3D光线追迹 |*KS<iHr% A Vm{#^p[( DYlvxF` </gp3WQ. 结果:场追迹 OZD!#YI _-]!;0EIV
T[-c| _I_?k+#WFe 结果:移动样品的场追迹结果 `8;,&<U'` Reu{
\bm6/fhA: 通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 ttaQlEa=Z
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