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    [技术]用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪 [复制链接]

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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2023-03-16
    光学测量 > 干涉测量 #[~f 6s9D  
    [*Vo`WgbD  
    任务/系统说明 u#$sO;8s  
     ;W@  
    _Oc\hW  
     4Jw_gOY&D  
    亮点 N6!9QIu~i  
    __-V_(/b,x  
    LJ*W&y(2>Q  
     OkQtM nq  
    •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换； HQ/ Q"  
    •对相干效应以及干涉图样的高速仿真； $#J  
     kY~o3p<  
    具体要求：光源 } FC(Z-g  
    ?]58{O(?c  
    '77Gg  
    "!PN+gB  
    具体要求：用于准直的消色差透镜 0NyM|  
    zj#8@gbh+  
    7JLjA\k  
    BPypjS0?8  
    JZoH -  
    jd}-&DN  
    [CG*o>n&|  
    '2S?4Z  
    具体要求：分束器 [d6TwKv  
    ?.69nN  
    OUtMel_  
     RjGJfN {  
    具体要求：参考光路反射镜 }r ;#|=HR  
    w(!COu  
    nztnU9OG  
    ,V ) |A=ml  
    -AM(-  
     PKX Tj6hj)  
    具体要求：测试光路反射镜 C+aL8_(R  
    *nV*WU S3  
    `SG8w_  
     $6*6%T5}  
    具体要求：探测器 /"7_75 t  
    !mu1e=bY>  
    w72\'  
    ^:^8M4:  
    结果：3D光线追迹 #PA 9bM  
    U oG+du[  
    >VB*Xt\C&  
    pXoT@[}  
    结果：场追迹 c7t .  
    7H_*1_%ZQ  
    "Rr650w[  
     G[a&r  
    结果：移动样品的场追迹结果 OEXa^M4x   
    p!H'JNG  
    c"`CvQO64  
    通过扫描样品的轴向位置，可以研究出样品的形貌。 !)LVZfQ0  
     
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