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光学测量 > 干涉测量 tWn
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;VE y{%nF •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换； -,bnj^L •对相干效应以及干涉图样的高速仿真； u"h/ERCa
`XxnQng 具体要求：光源 ?%5VaxWJ uzdPA'u  -;9
}P Uxjc&o 具体要求：用于准直的消色差透镜 B@F@,? K4% v@zi?D K c`<2&ke  #I=EYl=Vvi "0HUaU,e $e+sqgU  8n3]AOc'~- LwB1~fF 具体要求：分束器 iTHwH{! ~A >fB2.pM  necY/&Ld-
`/sNX<mp 具体要求：参考光路反射镜 j !*,( E`TZ:W]r,  *
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w*`:v$ 具体要求：测试光路反射镜 kk78*s {6 [|:{qQyD  8$NVVw]2,
g@#he95 } 具体要求：探测器 dWd%>9 }
'OnfU{Ai  ?("O.< t2,II\K l 结果：3D光线追迹 .{ v$;g :^y!z1\2(7  !R@ LC SrKit SG 结果：场追迹 >SXSrXyYX O&?i#@5#
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SRfh{u 结果：移动样品的场追迹结果 L 62'Amml KSs1EmB  &%fcGNzJQ 通过扫描样品的轴向位置，可以研究出样品的形貌。 = n,;S W
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