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光学测量 > 干涉测量 }t9.N`xu wh6yPVVF/ 任务/系统说明 V7d)S&*V fq )vK
T9W`?A lot%N(mB` 亮点 a"N4~?US K5Q43e1
hc#!Lv +mj*o( •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; Wj|alH9< •对相干效应以及干涉图样的高速仿真; Q?b14]6im :W#rhuzC 具体要求:光源 YB<*"HxM)} fmqb`% j9Ybx# r={c,i 具体要求:用于准直的消色差透镜 `Z:R Ce^ aj8A8ma*}
$`ZzvZ'r 7SD Fz} ~5Pb&+<$ 9.'h^#C '* mH*?Y ,}oM-B 具体要求:分束器 =4V&*go*\ pl@O
N"=[ O[tvR:Nh Jk@]tAwoM 具体要求:参考光路反射镜 |4$M]M f0 .2d9?p3Y vEf4HZ&w +$4(zPs@
Xq'cA9v=$J #^m0aB7r 具体要求:测试光路反射镜 )u))n# P b0iSn#$ f#+el
y V5+SWXZ 具体要求:探测器 oFOnjK"|F +"9hWb5 RMMd#/A@} z/i+EE 结果:3D光线追迹 dJ$"l|$$ )`^p%k *JggU f0Bto/,>~ 结果:场追迹 &zs'/xv] vJAZ%aW
3u%{dG a P[s8JDqu 结果:移动样品的场追迹结果 o7IxJCL=Q ss;R8:5 KWLbD# 通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 j
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