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光学测量 > 干涉测量 DZ^=*. H H"$#T^- 任务/系统说明 LYp'vZ!
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q.-y)C) ; 亮点 A:kkCG!~Nf
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.2e1S{ 9 •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换； UQ5BH%EPb •对相干效应以及干涉图样的高速仿真； -g:lOht
k]Zo-xh4 具体要求：光源 p ss6Oz8 GP* +  5 d+<EF+N Hz E1r+3Q@ 具体要求：用于准直的消色差透镜 fCB:733H sYI~dU2H p"KU7-BfvC  T'8RkDI}- O7v]p qtHfz"p  opdu=i=E _().t5< 具体要求：分束器 Yb}w;F8( ~wTX >qV  GJX4KA8J
a'uU,Eb}#w 具体要求：参考光路反射镜 kBbl+1{H .!i0_Rv5x  Yj3 P 7k$c
$&IpX M]
 J/t!- !
Ivsb<qzG 具体要求：测试光路反射镜
a"QU:<-v f/ajejYo?,  3% ^z ?_
>\Z R*CS 具体要求：探测器 H>.B99vp {]^2R>0Q  i&A%"lOI9 Tw//!rp G 结果：3D光线追迹 rs:Q%V
^ azo0{`S?  OC_M4{9 / v)):$s?WB 结果：场追迹 kJk xx*:u W/r^ugDV
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b{RqwV5P 结果：移动样品的场追迹结果 !%xP}{(7 m" Qq{p|' 
55-D\n< 通过扫描样品的轴向位置，可以研究出样品的形貌。
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