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光学测量 > 干涉测量 U-]PWt?C{ RVKaqJ0e< 任务/系统说明 uF.\dY\xv %Pvb>U(Xs
U+}9X^ ]#7Y@Yo 亮点 :c/=fWM% vM3|Ti>a'
Ynh4oWUp (XIq?c1T •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; d<cbp[3F •对相干效应以及干涉图样的高速仿真; [;LPeO "?0G^zu 具体要求:光源 hpi_0lMkI VflPNzixb! b
yreleWo Nm:<rI,^ 具体要求:用于准直的消色差透镜 ;51!aC eEZlVHM;O md
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! +VN X1z0'gvh ,'{B+CHoS 具体要求:分束器 nhxd GDQg:MgX 1#_j6Q2 OuIW|gIu0 具体要求:参考光路反射镜 LYT<o FE- EsxTBg V'h z1roe UHl/AM>!
A(sx5Ynp 5Fm?,^ 具体要求:测试光路反射镜 nk,Mo5iqV &$Ip$"H nPX'E`ut-V Ytnr$*5. 具体要求:探测器 q9z!g/,d/ LzSusjEW@ Y~?YA/.x hfa_M[#Q- 结果:3D光线追迹 jN{xpd @ y2Bq[' {ZI6!zh' Vw@x 结果:场追迹 F88SV6 \bmboNe
q$*_C kT 3'uES4+r 结果:移动样品的场追迹结果 aZ3 #g
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[ 通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 WSccR
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