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    [技术]用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-03-16
    光学测量 > 干涉测量 jW0z|jr  
    XGl13@=O  
    任务/系统说明 }8]uZ)[p=  
    uV:uXQni``  
    ,* vnt6C*  
     r[4F?W  
    亮点 *b l{F\  
    *R6eykp  
    _89G2)U=C  
     1? hd  
    •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换； HNyDWD)_  
    •对相干效应以及干涉图样的高速仿真； eii7pbc  
     # i=^WN<V  
    具体要求：光源 >!p K94  
    BRLU&@G`1  
    ;= @-j@?  
    ;{7lc9uRj  
    具体要求：用于准直的消色差透镜 U)1qsUDF  
    F"P:9`/  
    S_;:iC]B  
    Sqt"G6<  
    q5?mP6   
    )Nd:PnA  
    nhhJUN?8  
    0A 4|  
    具体要求：分束器 0x/V1?gm  
    htSk2N/  
    ;mxT >|z  
     \> dG'  
    具体要求：参考光路反射镜 rzj'!~>U  
    ({b/J0 <@D  
    xEWa<P#.u  
    LMzYsXG*[  
    !K)|e4$  
     ] CE2/6Ph  
    具体要求：测试光路反射镜 % 7:  
    XArLL5_L  
    yiA\$mtO  
     78#ud15Ml  
    具体要求：探测器 b4PK  
    NU*6iLIq|F  
    ;BvWU\!  
    '(>N gd[  
    结果：3D光线追迹 0zNS;wvv&  
    x;aZ&  
    9 9-\cQv  
    {IwYoRaXa  
    结果：场追迹 'z5 ;o :T  
    `Yve  
    Y[,C1,  
     \bE~iz3b9  
    结果：移动样品的场追迹结果 xGPv3TLH^  
    7w({ GZ  
    kS!*kk*a  
    通过扫描样品的轴向位置，可以研究出样品的形貌。 gE(03SX  
     
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