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光学测量 > 干涉测量 x+]\1p M8TSt\ 任务/系统说明 Cn[0(s6 &e8s65`
2r ZxSg &%/7E_j7 亮点 +j4"!:N}B S1?-I_t+]
M^]cM(swK5 @|tL8? •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; H_QsNf •对相干效应以及干涉图样的高速仿真; z+>}RT] VzKW:St 具体要求:光源 Qg<(u?7N lO_UPC\@fw s91JBP|B7 $81*^ 具体要求:用于准直的消色差透镜 ,11H.E
Z 2Roc|)-47 `kJ^zw+ _> *jH' m
RO~aD!N >cCR2j,r bAm(8nT7w 5>\/[I/! 具体要求:分束器 GHeVp/u ;{%\9nS }I2@%tt? ])!o5`ltZ 具体要求:参考光路反射镜 *^wm1|5 BFOq8}fX2 9amaL~m W0]gLw9*
8Bjib&im /x1![$oC0 具体要求:测试光路反射镜 '5|h)Q5 [a
wjio XnWr5-; EG=Sl~~o 具体要求:探测器 <U\B!fO' !_cg\KU# tyqT [6XF=L,! 结果:3D光线追迹 $H9%J o_^?n[4 Ot6aRk *5^Q7`` 结果:场追迹 b7p@Dn?E LB a[:j2
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</ 4QIX19{" 结果:移动样品的场追迹结果 PU^l. *=I}Qh(1 ub\MlSr 通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 TO?R({yx*
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