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光学测量 > 干涉测量 tw\1 &*: e:.?T \ 任务/系统说明 )<_qTd0`
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vEy 亮点 '^[+]
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YmjA!n •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换； G8/q&6f_ •对相干效应以及干涉图样的高速仿真； I,)\506
y"U)&1 c% 具体要求：光源 elp Tak@ sdyNJh7Jr  ({!H () 0 ]=Bqyg 具体要求：用于准直的消色差透镜 #)[.Xz:U Vx> Q [ fo#){3K  a1%}E e H~>8q~o] Zkqq<  Qc P U{#6 Y3(I;~$! 具体要求：分束器 Ze#DFe$ 5 ddfdIp  ;)P=WS:=
*">CEQ[MT 具体要求：参考光路反射镜 UK*v\TMv -Wh 2hWg+  VEn3 b
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Fpeokr"i 具体要求：测试光路反射镜 gG}H5uN kp}[nehF  8ZM#.yB B
*rHz/& , 具体要求：探测器 v9S =$Aj C8|#  x#zj0vI-8 ,tg(aL 结果：3D光线追迹 RO%M9LISI i1m>|[@k  *vEj\ 9PV+Kr!c5I 结果：场追迹 EBz4k)@ m iXL^[/}&?M
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cs9h\]ZA 结果：移动样品的场追迹结果
kN8B, 1 ,Mm+_)B  $8AW 通过扫描样品的轴向位置，可以研究出样品的形貌。 )|k#cT{=M
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