-
UID：317649
-
- 注册时间2020-06-19
- 最后登录2025-09-29
- 在线时间1866小时
-
-
访问TA的空间加好友用道具
|
光学测量 > 干涉测量 EPCu }LNpr 任务/系统说明 Ed3 *fY
5 N(/K. ^
 r >:7)p!|
{]~b^=qE$ 亮点 zrjqB3R4@O
qb y!
 &N!QKrj3
-I.OvzQ* •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换； "E;]?s9x •对相干效应以及干涉图样的高速仿真； C+-xC~
@ oE [! 具体要求：光源 !Y3w]_x[: Int 6xoz  />(e.)f 3&kHAXzM 具体要求：用于准直的消色差透镜 :] Jwcp Z
4uf t B 98&JoS  & ZgB b <qs>c<Vj ~xqRCf{8  &[ }T41 08&DP^NS 具体要求：分束器 S, LW/:, %N@454enH  %ci/(wL
PuAc sYQhN 具体要求：参考光路反射镜 ]sJWiI e. m M!H} |  a!}.l< )
/i|T \
 NrVrR80Y
4f<%<Z 具体要求：测试光路反射镜 dV<|ztv s4bLL  +5Yc/Qp
"q4c[dna 具体要求：探测器 |:n 4t6 4flyV -  zJS,f5L6) }wrZP }zM> 结果：3D光线追迹 |l(rR06#.] LD5n_W  mX T{)pU |D%i3@P&ZR 结果：场追迹 MK 7S*N1 w@7NoD=
 .w^M?}dx
{~ ZS q d 结果：移动样品的场追迹结果 L,0HX .4A4\-Cqe  -J4?Km 通过扫描样品的轴向位置，可以研究出样品的形貌。 #Yi,EwD
|
