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光学测量 > 干涉测量 mD B +# W94s~0V 任务/系统说明 +{J8,^z#
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CD|[PkjW 亮点 ahB qYA K9
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?^}30V:E •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换； U.%Kt,qB •对相干效应以及干涉图样的高速仿真； "t @p9>
c'2d+*[ 具体要求：光源 {@Mr7*u [Kg b# L'{  bx@l6bpQ vvoxK 0 具体要求：用于准直的消色差透镜 I2cz:U7 ZL MH~cc A'WR!*Yt  ?pDr"XH~ [K!9x M6 <n"BPXF~  0YeTS!*Aj NFK`, 具体要求：分束器 U84W(X @Z Kf3,J0  G#M)5'Q]U
\l% xuT 具体要求：参考光路反射镜 ; *
[:~5Wc d[ N1zQW  l'@-?p(Vuw
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P&-o>mM 具体要求：测试光路反射镜 92+8zX 6% D9;-N)  niVR!l
W :w~ M'o 具体要求：探测器 '`];=QY9pg B@,9Cx564  {7o#Ve v* ;d 结果：3D光线追迹 Ic& h8vSU i;[y!U  & hCbXs= 1+o]+Jz| 结果：场追迹 uOxHa>h 1GY2aZ@
 {K(mfTqm
*[Hrbln 结果：移动样品的场追迹结果 XQ}Zr/f6 2wf&jGHs  8H F^^Cva 通过扫描样品的轴向位置，可以研究出样品的形貌。 _n&Nw7d2
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