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    [技术]用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-03-16
    光学测量 > 干涉测量 kT?J5u _o  
    .543N<w  
    任务/系统说明 ,[Fb[#Qqb  
    (t.Nk[  
    "KlwA.7/  
    %SI'BJ  
    亮点 E9}C  #  
    HDKbF/  
    F?cK- .  
    iLz@5Zj8  
    •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; -/k 3a*$/  
    •对相干效应以及干涉图样的高速仿真 :4s1CC+@\  
    :EH=_"  
    具体要求:光源 t Pf40`@  
    cAy3^{3:  
    C?Ucu]cW  
    nm+s{  
    具体要求:用于准直的消色差透镜 8f7>?BUS,  
    ccnK#fn v  
    C>~TI,5a3  
    OTp]Xe/  
    FqifriLN  
    ^(<f/C)i  
    Y~Ifj,\  
    ':}\4j&{E  
    具体要求:分束器 jtc~DL  
    b2]Kx&!  
    f-d1KNY  
    9Ee'Cm  
    具体要求:参考光路反射镜 BD-AI  
    W`&hp6Jq  
    TKjFp%  
    BC]?0 U  
    <X5 fUU"+U  
    <1 pEwI~  
    具体要求:测试光路反射镜 KF/-wZ"1s  
    ]HdCt3X  
    KU;9}!#  
    +>9Q/E  
    具体要求:探测器 ^J d r>@  
    [r-p]"R  
    s79r@])=  
    LF7SS;&~f  
    结果:3D光线追迹 /@Zrq#o zx  
    MPk5^ua:  
    };g"GNy  
    c)tfAD(N8x  
    结果:场追迹 \?N2=jsu$  
    ??T#QQ  
    akT6^cP^  
    "] iB6  
    结果:移动样品的场追迹结果 Ev P{p  
    'RRE|L,  
    H|D.6^  
    通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 X7 w Ky(g  
     
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