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光学测量 > 干涉测量 kT?J5u_o .543N<w 任务/系统说明 ,[Fb[#Qqb (t.Nk[
"KlwA.7/ %SI'BJ 亮点 E9}C # HDKbF/
F?cK-. iLz@5Zj8 •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; -/k 3a*$/ •对相干效应以及干涉图样的高速仿真; :4s1CC+@\ :EH=_" 具体要求:光源 t
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cAy3^{3: C?Ucu]cW nm+s{ 具体要求:用于准直的消色差透镜 8f7>?BUS, ccnK#fn v C>~TI,5a3 OTp]Xe/ FqifriLN ^(<f/C)i
Y~Ifj,\ ':}\4j&{E 具体要求:分束器 jtc~DL b2]Kx&! f-d1KNY 9Ee'Cm 具体要求:参考光路反射镜 BD-AI W`&hp6Jq TKjFp% BC]?0 U
<X5fUU"+U <1pEwI~ 具体要求:测试光路反射镜 KF/-wZ"1s ]HdCt 3X KU;9}!# +>9Q/E 具体要求:探测器 ^J d
r>@ [r-p]"R s79r@])= LF7SS;&~f 结果:3D光线追迹 /@Zrq#o
zx MPk5^ua: };g"GNy c)tfAD(N8x 结果:场追迹 \?N2=jsu$ ??T#QQ
akT6^cP^ "]iB6 结果:移动样品的场追迹结果 Ev P{p 'RRE|L, H|D.6^ 通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 X7wKy(g
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