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光学测量 > 干涉测量 4y3c=L
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KZ[TW,Gw •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换； Yh1nXkA!V •对相干效应以及干涉图样的高速仿真； Wfd `v
#2 %V 具体要求：光源 l VD{Y`) O D N_i  ;E
9o%f:o AA^K /y 具体要求：用于准直的消色差透镜 6 ~0kb_td I ]o|mjvs ._tEDY/1m  <t(H+ykh L:Rg3eo H *k\C  "t^RZ45 [ Lji LKW 具体要求：分束器 wg0 _J<y] ;yN Y/  [6RODp3')
*GXPN0^Qjo 具体要求：参考光路反射镜 _ s}aF Ix_w.f =8  s) s9Z,HY
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[>dDRsZ 具体要求：测试光路反射镜 L3 oL>r'| i9Bh<j>:J  ?m~1b_@A{
F5:xrcyC 具体要求：探测器 jRiMWolLv w?u3e+  ?`xF>P]M REU&8J@k&? 结果：3D光线追迹 Dom]w.W5 WxYEu +_  ef7 U7 hfIP
结果：场追迹 'L3MHTM>[ .
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}[|9vF"g.y 结果：移动样品的场追迹结果 O,
eoO,gB IfB .2e`  u =L Dfn 通过扫描样品的轴向位置，可以研究出样品的形貌。 {_(R?V]w,
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