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    [技术]用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪 [复制链接]

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    离线infotek
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-03-16
    光学测量 > 干涉测量 @]Cg5QW>T  
    ^DYS~I%s  
    任务/系统说明 :q9!  
    ,L<JG  
    @Xo*TJB  
     Rc1j^S;>  
    亮点 $+4DpqJ  
    'z$N{p40m  
    FGV L[\  
     SQN?[v  
    •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换； ~o'1PAW7  
    •对相干效应以及干涉图样的高速仿真； <%)vl P#@  
     H*W>v[>  
    具体要求：光源 '09|Y#F  
    Qq,2V  
    m{q'RAw  
    ` Ig5*X4|  
    具体要求：用于准直的消色差透镜 h:4(Gm;  
    \|HtE(uCM1  
    m+c-"arIpA  
    +CSpL2@  
    YmV/[{  
    B;9,Qbb  
    f+Y4~k  
    k|;a"56F  
    具体要求：分束器 YC6T0m  
    Ju+3}  
    }1#m+ (;  
     #UM,)bH  
    具体要求：参考光路反射镜 {nmG/dn {  
    !ku}vTe  
    ('&lAn  
    gVG^R02#<k  
    U^PXpNQ'  
      ~~>m  
    具体要求：测试光路反射镜 "| '~y}v_  
    ? }HK!feU  
    !#0)`4O  
     :;%Jm  
    具体要求：探测器 ^Om}9rXw1  
    + <bj}"  
    R~g|w4a@sC  
    #49l\>1 z  
    结果：3D光线追迹 Q>1BOH1by  
    XM]m%I  
    K,S4  
    j97+'AKX  
    结果：场追迹 yY$^ R|t  
    /zIG5RK>  
    mEY#QN[eq  
     5IU!BQU  
    结果：移动样品的场追迹结果 NM. e4  
    j7!u;K^c  
    TEV DES  
    通过扫描样品的轴向位置，可以研究出样品的形貌。 * F!B4go  
     
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