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    [技术]用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-03-16
    光学测量 > 干涉测量 U\tx{CsSz  
    C$1W+(  
    任务/系统说明 WJnGF3G>  
    }QE*-GVv]  
    V)>?[  
    -m%`Di!E  
    亮点 A,cXN1V  
    Y -a   
    5MAfuHq^  
    =oq8SL?bJ*  
    •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; Pp tuXq%U  
    •对相干效应以及干涉图样的高速仿真 6_bL<:xtY  
    ^x: lB>  
    具体要求:光源 XH$r(@Z\7  
    ^0OP&s;"  
    ?Z7QD8N  
    M>]A! W=  
    具体要求:用于准直的消色差透镜 "a8E0b  
    5?^L))  
    _y^r==  
     Qw}1q!89  
    E>|X'I?r^  
    P.,U>m  
    d}h{#va*  
    Z)#UCoK!c  
    具体要求:分束器 0B]q /G(  
    y(p_Unm  
    <ukBAux,D  
    yijP  
    具体要求:参考光路反射镜 -SrZ^  
    w#|L8VAh  
    j ) 6  
    "s(~k  
    :eVZ5?F  
    kO}&Oi,?  
    具体要求:测试光路反射镜 q*l4h u%3  
    3S:Lce'f  
    &vp KBR ^  
    !wfW0?eu  
    具体要求:探测器 No'?8+i  
    6:7[>|okQ  
    rG-T Dm  
    E^axLp>(I  
    结果:3D光线追迹 J +u}uN@  
    MY^{[ #Q  
    Rqh5FzB>  
    KhHFJo[8sf  
    结果:场追迹 "La;$7ds  
    aixX/se  
    50^ux:Uv+N  
    Pb#M7=J/  
    结果:移动样品的场追迹结果 ^}_Ka//k  
    dI{DiPho  
    t<!;shH,s  
    通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 'dLw8&T+W  
     
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