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光学测量>显微 ~>wq;T:= q0xE&[C[M 任务/系统描述 9EY_R&Yq% WA)lk>(+
#|2g{7g* fjzr8vU}C 亮点
4pOc` T<_1|eH
Zzzi\5&gU {pi67"mYp 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 bN~'cs8 e 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 _{@}Fd?o 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 ^9m^#"ZW` EXScqGa] 说明:光源 bB[*\ -$Z-hxs^ EJiF_ Fb`7aFIf 说明:透镜系统 qy0_1xT- \c`r9H^v{ OAQ O J' " kJWWR 说明:样品结构 >0G}, S (Su2\x g\mrRZ/? mZ.6Njb 说明:探测器 M}RFFg gB'Ah -@,P X<bj2 w c^/?VmCQ} 结果:3D光线追迹 k>@^M]% w6%CBE2
5v03<m0`y H0Gp mKYW 结果:场追迹矩形光栅 {;rpgc Q $,kB<M x#xO { 6P[O8 结果:场追迹锯齿形光栅 %QcG^R V,%5
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