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光学测量>显微 y{rn-?`{ *d*oS7 任务/系统描述 `\FI7s3b >7-y#SkXdo
j)D-BK&+ UC9{m252 亮点 cIw
eBDl #MTj)P,
o<4D=.g7D ?M&4pO&Y 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 GEE
]Kr 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 t!l%/$- 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 S!j^|! >a]t< 说明:光源 &G{2s J5{ huAyjo g37q/nEv ce5nG0@# 说明:透镜系统 1)U}i ^ }K8Lm-.= _^;;i4VZ S[U/qO)m 说明:样品结构 %_tk7x ]V<"(?,K 7Dl%UG] _'c+fG
\ 说明:探测器 i| xt f *CUdGI& 94z8B;+H] ]18Ucf 结果:3D光线追迹 h*'d;_(, STlPT5e.}
4$i} Xk#3 5Bd(>'ig_ 结果:场追迹矩形光栅 ;C_ > [aNhP;< YKq0f=Ij _?Ckq 结果:场追迹锯齿形光栅 !w=,p.?V= ]^!}*
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