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光学测量>显微 ZOGH.` Zi47)8 任务/系统描述 *rPUVhD_ 'ojI_%9<
4R5+"h: *k:Sg*neVq 亮点 "f|\":\ \(Uw.ri
SsiKuoxk o:u *E 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 Y_n^6 ; 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 g6:S"Em 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 b&s"/Y89 iOI8'`mk 说明:光源 Gp.+&\vi e*w2u<HP s^Lg*t3I `N%q^f~ 说明:透镜系统 FVOR~z .b*%c?e s u]x 4:Adn?" 说明:样品结构 epa)~/sA 9mW95YI S k^-HY[Q9 EAYx+zI 说明:探测器 Y#Pl)sRr u!TVvc Jwzkd"D FZTBvdUYp 结果:3D光线追迹 SB
R= S^;D\6(r
S<"T:Y& R(Y4n w+Y- 结果:场追迹矩形光栅 p3Uus''V4 uXPvl5(Y? Ym~*5| I9GRSm;0< 结果:场追迹锯齿形光栅 5(kRFb'31F DuJbWtA
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