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光学测量>显微 gWa0x- 1v.#ndk 任务/系统描述 R=E4Sh { >izfG,\
bO/r1W m[2[9bQ0 亮点 Cy6!?Mik /4pYhJ8S
H,w8+vZ4\ 9=]HOUn 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 V'W*'wo 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 bF_0',W 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 IO"P /Q p19(>|$J 说明:光源 F) Q[ cai BV>9U5 >W-xDzJry !J#P'x0 说明:透镜系统 __$ ;Z Eze w@*( L3wj vq^ hf9i%,J 说明:样品结构 27c0wzq NdLe|L?c 'R+^+urq^ Ayqs~&{ 说明:探测器 ~< UYJc >\pF5a`
gvo98Id Y#V(CIDe 结果:3D光线追迹 _oBx:G6E M$ieM[_T
#'%ii,;wQ AU`z.Isf 结果:场追迹矩形光栅 uuFQTx)) 3T]cDVQ_ ;ZI8vFb oowofi(E 结果:场追迹锯齿形光栅 4+d(d .Er+*j;&w
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