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光学测量>显微 n[,w f9 4T<Lgb 任务/系统描述 STw#lU) %( ~/ilx#d
LtKI3ou T=:]]nf?M 亮点 k` (jkbEZ LW:LFzp
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9|5* w7n373y% 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 @b3#X@e} 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 cl*PFQp9j 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 Wt9Q;hK T!}[yW 说明:光源 \Ro^*4B R?EASc!b yj(vkifEB wB{;bB{ 说明:透镜系统 H<G4O02i_ (x$9~;<S*d iIGbHn,/ Iu35#j 说明:样品结构 Ep4Hqx $ C}*cx$. oo$MWN8a>r 7 #=}:3c 说明:探测器 ' 2-oh 35x 0T/8 leiW4Fj ?<yM7O,4 结果:3D光线追迹 ez9k4IO a3>zoN
>u(>aV|A yRYWch 结果:场追迹矩形光栅 *+b6B_u] 1lnU77; WWZ9._ V8~jf-\$b 结果:场追迹锯齿形光栅
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