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光学测量>显微 ^| L@f 8y5iT?.~vy 任务/系统描述 L|Zja* SnsOuC5Ah
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le|Rf v`ckvl)(C 亮点 zrWkz3FN 1@*qz\ YY
c|8[$_2 AvF:$kG 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 WZ@/' [ 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 v|:2U8YREf 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 !PX`sIkT al<[iZ 说明:光源 c+:LDc3!Gb fG2hCP+ t .*z)N RN(>37B3_ 说明:透镜系统 R#OVJ(# }!=}g|z#| rxZ%vzVQ> $\BRX\6(- 说明:样品结构 ,f
..46G k*)O]M<, es}j6A1
"LyMw){ 说明:探测器 }TjiYA. 7#K%Bo2pG <T?H
H$es) "J|_1! 9 结果:3D光线追迹 WqX#T aChyl;#E
88\0opL- 8YNii-pl 结果:场追迹矩形光栅 sHC4iMIw \*{tAF 6E~T$^Q} F/c7^ 结果:场追迹锯齿形光栅 ,MkldCV ATq)8Rm\
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