切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 607阅读
    • 0回复

    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线infotek
     
    发帖
    6441
    光币
    26350
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-03-16
    光学测量>显微 ~>wq;T:=  
    q0xE&[C[M  
    任务/系统描述 9EY_R&Yq%  
    WA)lk>(+  
    #|2g{7 g*  
    fjzr8vU}C  
    亮点  4pOc`  
    T<_1|eH  
    Zzzi\5&gU  
    {pi67"mYp  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 bN~'cs8 e  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 _{@}Fd?o  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 ^9m^#"ZW`  
    EXScqGa]  
    说明:光源 bB[*\  
    -$Z-hxs^  
    EJiF_  
    F b`7 aFIf  
    说明:透镜系统 qy0_1xT-  
    \c`r9H^v{  
    OAQ O J'  
    " kJWWR  
    说明:样品结构 >0G}, S  
    (Su2 \x  
    g\mrRZ/?  
    mZ.6Njb  
    说明:探测器 M}RFFg  
    gB'Ah-@,P  
    X<bj2 w  
    c^/?VmCQ}  
    结果:3D光线追迹 k>@^M]%  
    w6%CB E2  
    5v03<m0`y  
    H0Gp mKYW  
    结果:场追迹矩形光栅 {;rpgc  
    Q $,kB<M  
    x#xO {  
    6P[O8  
    结果:场追迹锯齿形光栅 %QcG^R  
    V,%5 hl'&  
     
    分享到