切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 528阅读
    • 0回复

    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线infotek
     
    发帖
    6066
    光币
    24483
    光券
    0
    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2023-03-16
    光学测量>显微 wbId}!  
    57b;{kl  
    任务/系统描述 w8g36v*+(u  
    $bKa"T*  
    5OUe |mS  
    j{'@g[HW  
    亮点 M O/-?@w  
    %rRpUrnm  
    I1H:h  
    h(G(U_V-Od  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 :+,qvu!M7  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 ),6Z1 K1  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 XfT6,h7vFL  
    X|wXTecg*|  
    说明:光源 6A/|XwfE/v  
    }J$PO*Q@'  
    |E]YP~h  
    n{Mj<\kL  
    说明:透镜系统 ;SVF"Uo  
    `"CF/X^  
    q& Vt*  
    `czXjZE  
    说明:样品结构 %GS)9{T&  
    MU&5&)m  
    I>-jKSkwc  
    X6<HNLgra  
    说明:探测器 }Gz"og*8  
     Phgn|  
    XW Y0WDh:  
    ZcO!cR&*'J  
    结果:3D光线追迹 _L!"3  
    <$njU=YE&  
    3P6!j  
    g%=\Wiit]  
    结果:场追迹矩形光栅 ._tv$Gd@k  
    a4: PufS  
    :WCUHQ+  
    -RH ?FJ  
    结果:场追迹锯齿形光栅 a3lo;Cfp  
    "ej>1{3Y:=  
     
    分享到