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光学测量>显微 kBYNf = ROk5]b. 任务/系统描述 nx8a$vI-TY {.QEc0-
&m|wH4\ R$[#+X! 亮点 sYjpU ^;/b+ /B0
wtc!> q>mE<
(-M 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 T{Sb^-H#X 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 !eEHmRgg4 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 Svc|0Ad& )=AHf?hn 说明:光源 HuwU0:* PNaay:a| 'h^0HE\~p l~6?kFy9h 说明:透镜系统 Eo#u#IY qW!]co &jsVw)Ue r :F 说明:样品结构 %!du,2 dHK`eS$sb FI3)i>CnW 5dB'&8DX 说明:探测器 ai
nG6Y<O` *M$0J'-BQ Bx/L<J@ _io+YzS 结果:3D光线追迹 (*oL+ef-C iMs5zf<M
du)~kU>l Dh5X/y 结果:场追迹矩形光栅 [P 06lIO DdVF, Gm(b/qDDe
Xtp"QY
p 结果:场追迹锯齿形光栅 'ow.=1N- ^4,a 8`
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