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    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2023-03-16
    光学测量＞显微 o*_arzhA  
    N.'-9hv  
    任务/系统描述 L NS O]\  
    zt!)7HBo  
     4p<c|(f#  
    W>y >  
    亮点 :6TLT-B  
    !:2_y'hA  
     `}.jH1Fx/m  
    bt'lT  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 #u"$\[G  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 &[b(Lx|i  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 1$_|h@  
    yU|=)p5  
    说明：光源 XcFu:B  
    z"\<GmvB  
    'r'+$D7  
    VPvQ]}g6k  
    说明：透镜系统 q"0_Px9P  
    6DVHJ+WTV  
    ,8[R0wsBaz  
     +OaBA>Jh9  
    说明：样品结构 Ve\.7s  
    lk4U/:  
    fA)4'7UT  
    TUN6`/"  
    说明：探测器 ^6@6BYf)  
    G?+0#?'Y  
    v8U&{pD,  
    p'4ZcCW?f  
    结果：3D光线追迹 XyYP!<].C  
    ST1;i5   
     @yNCWa~N  
    (j&7`9<5  
    结果：场追迹矩形光栅 _ |G') 9  
    uWLf9D"  
    SoHw9FtS  
     t=IM"ZgfL  
    结果：场追迹锯齿形光栅 KBI36=UV  
    8;i'dF:)  
     
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