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光学测量>显微 wbId}! 57b;{kl 任务/系统描述 w8g36v*+(u $bKa"T*
5OUe|mS j{'@g[HW 亮点 M O/-?@w %rRpUrnm
I1H:h h(G(U_V-Od 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 :+,qvu!M7 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 ),6Z1 K1 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 XfT6,h7vFL X|wXTecg*| 说明:光源 6A/|XwfE/v }J$PO*Q@' |E]YP~h n{Mj<\kL 说明:透镜系统 ;SVF"Uo `"CF/X^ q&
Vt* `czXjZE 说明:样品结构 %GS)9{T& MU&5&)m I>-jKSkwc X6<HNLgra 说明:探测器 }Gz"og*8 Phgn| XW Y0WDh: ZcO!cR&*'J 结果:3D光线追迹 _L!"3 <$njU=YE&
3P6!j g%=\Wiit] 结果:场追迹矩形光栅 ._tv$Gd@k a4: PufS :WCUHQ+ -RH ?FJ 结果:场追迹锯齿形光栅 a3lo;Cfp "ej>1{3Y:=
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