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光学测量>显微 l4YTR4D jEm=A8q 任务/系统描述 l)f 2T@bHl /k KVIlO
.ZupsS9l 5Vr#>W 亮点 _opB,,G !?z"d
XdE|7=+s A3|X`X 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 v!#koqd1y. 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 J
IE0O` 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 $U'*}S e\}'i- 说明:光源 HE-ErEtGB *JO%.QNg F#z1 sl' NYeL1h)l 说明:透镜系统 e"ClG/M_XS >0cg rnC<(f22 7! ~)a 说明:样品结构 1cV0TUrz b@B\2BT zANsv9R~ sqO$ka{ 说明:探测器 ZeH=]G4Zv7 T/tC X[} I=;=;- "5"{~3Gw^ 结果:3D光线追迹 vb$i00? GD4+f|1.*
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Wqe0m_7 结果:场追迹矩形光栅 ]3
76F7 |5*:ThC[ rEjEz+wu HFX,EE 结果:场追迹锯齿形光栅 ;oOv~YB7H "sed{?
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