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光学测量>显微 2vWkAC; VKik8)/. 任务/系统描述 JH)&Ca>S 5V?1/
oR-_=U^ >wMsZ+@m 亮点 pY8+;w
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u'32nf? -3 W4 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 ._FgQ``PL 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 uxh4nyE 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 c,D'Hl6(% `Z@wWs 说明:光源 Ix *KL=MG ![vc/wuf klch!m=d PTePSj1N 说明:透镜系统 UBU(@T( fA3 _K;rM7 ?` `+OH 说明:样品结构 a,j!B
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N`X54 [j!0R'T 9*2hBNp+ 说明:探测器 5 ;|9bWH V_
]4UE [9LYR3 p 3BSeZ:j7 结果:3D光线追迹 3Q;^X(Ml* \2+xMv)8
eq@ v2o7 @+{S-iD" 结果:场追迹矩形光栅 7=<PVJ*/ \7C >4 VJ$C)0xQA aIfog+Lp 结果:场追迹锯齿形光栅 }pTj8Tr Ha/\&Z(
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