切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 831阅读
    • 0回复

    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    在线infotek
     
    发帖
    7036
    光币
    29325
    光券
    0
    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2023-03-16
    光学测量>显微 t{-*@8Ke  
    VHm.uL_UW  
    任务/系统描述 jG`,k*eUrJ  
    a0&L,7mu<'  
    kgHZaQnD  
    Ou`;HN;[  
    亮点 az[#q  
    z&Xk~R*$  
    BA8g[T A7K  
    N u3B02D*  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 b!<)x}-t>  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 M#k$[w}=  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 ws<p BC,m  
    9aBz%* xo  
    说明:光源 4_-L1WH  
    q"i]&dMr  
    /@64xrvIl=  
    c_T+T/O  
    说明:透镜系统 9-Z ?  
    Vn65:" O  
    SLz;5%CPV  
    y~'%PUN  
    说明:样品结构 uO>pl37@  
    7+;.Q  
    qpjiQ,\:b  
    udS&$/&GH  
    说明:探测器 'p[*2J"K4  
    GX=U6n>  
    hU3sEOm>  
    XAN.Plk  
    结果:3D光线追迹 N/eus"O;  
     z31g"  
    P%;lHC #i  
    mQ9y{}t=4  
    结果:场追迹矩形光栅 #O{cplh,  
    }`aT=_B  
    -jzoGzC3  
    9g|99Z  
    结果:场追迹锯齿形光栅 <'48mip  
    "xNP"S  
     
    分享到