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    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2023-03-16
    光学测量>显微 t$U3|r  
    dO>k5!ge|:  
    任务/系统描述 ZWf-X  
    6B7<  
    zq,iLoY[R  
    [leW/2i  
    亮点 y bo#K  
    'M~BE\  
    VK@$JwdL  
    ^y:FjQC:  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 Z} c'Bm(  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 2{Wo-B,wt~  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 `d75@0:  
    285_|!.Y  
    说明:光源 +O)]^"TG  
    \n[ 392  
    T#\p%w9d  
     DZ^=*.  
    说明:透镜系统 c]6V"Bo}A  
    jr9&.8%W:v  
    ?QGmoQ)  
    xKY$L*  
    说明:样品结构 |r5e{  
    q\a[S*  
    "kX`FaAhY  
    HV ;;  
    说明:探测器 2< p{z  
    >Y}7[XK  
    h2"9"*S1  
    #:$O=@@?M  
    结果:3D光线追迹 3DH.4@7P  
    w|=gSC-o  
    {]=v]O |,  
    $Z/klSEf  
    结果:场追迹矩形光栅 ,*7H|de7   
    ,:^ N[b   
    K>kLUcC7Z  
    \ZS\i4  
    结果:场追迹锯齿形光栅 JL.5QzA  
    C*7!dW6  
     
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