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光学测量>显微 t$U3|r dO>k5!ge|: 任务/系统描述 ZWf-X 6B7<
zq,iLoY[R [leW/2i 亮点 ybo#K 'M~BE\
VK @$JwdL ^y:FjQC: 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 Z} c'Bm( 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 2{Wo-B,wt~ 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 `d75@0: 285_|!.Y 说明:光源 +O)]^"TG \n[
392 T#\p%w9d DZ^=*. 说明:透镜系统 c]6V"Bo}A jr9&.8%W:v ?QGmoQ) xKY$L* 说明:样品结构 |r5e{ q\a[S* "kX`FaAhY HV ;; 说明:探测器 2< p{z >Y}7[XK h2"9"*S1 #:$O=@@?M 结果:3D光线追迹 3DH.4@7P w|=gSC-o
{]=v]O|, $Z/klSEf 结果:场追迹矩形光栅 ,*7H|de7 ,:^
N[b K>kLUcC7Z \ZS\i4 结果:场追迹锯齿形光栅 JL.5QzA C*7!dW6
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