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光学测量>显微 AOscewQ y`8bx94jB 任务/系统描述 > xie+ ^ ZYo?b"6A
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GW\66$| 亮点 z6x`O-\ ViYfK7Z
T3,}CK#O "^NsbA+ 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 ,Aw
Z% 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 W\5PsGUsv 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 G;Py%8 7-A/2/G< 说明:光源 8~ wP? =>htX(k} gi #dSd1\& KGJ *h 说明:透镜系统 "< })X.t #6*20w_u L6Io u Kn,td:( 说明:样品结构 IaT\ymm` 4~i?xo=;v \qz! v Yaj}_M- 说明:探测器 &M{;[O{ TXo`P_SE 1\ Gxk& nZ %%{#T7 结果:3D光线追迹 gfJHB3@ 6KDm#7J
"/nbcQ*s*E YF)k0bu&; 结果:场追迹矩形光栅 xO&qo8* #\Zr$?t|V lKG' KR. M@+Pq/f: 结果:场追迹锯齿形光栅 l1vI lc\{47LwZ
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