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光学测量>显微 Y^8'P /A $}us+hGZ 任务/系统描述 jL'R4z P1Iy>%3
MvaX>n!o u1.0-Y? 亮点 q{f (T\ d%E*P4Ua
w2lO[o~x} l2Rnyb<;; 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 3Jj&wHp] 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 3Lv5>[MnN 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 <P]%{msGH sx' eu;S 说明:光源 |PGTP#O< 2gEF$?+q? ho^jmp <l eE.hhf. 说明:透镜系统 L2%D$!9 j;-2)ZLm yOk{l$+ LIyb+rH#yg 说明:样品结构 k_gl$`A 0eK>QZ_ M<Dvhy[ mDuS-2G=D 说明:探测器 HLc3KYIk Pw6%,?lQ lW4 6S e ]{=#
结果:3D光线追迹 J(P'!#z^ OO,EUOh-T:
,V zbKx, j^h:*rw 结果:场追迹矩形光栅 ni<\AF]` 4Bt)t#0 S?c<Lf~W "x
3C3Zu.; 结果:场追迹锯齿形光栅 152LdZevF S/YHT)0x[
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