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    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2023-03-16
    光学测量＞显微 \ B%+fw  
    Pc]HP  
    任务/系统描述 !d T4  
    5 IpDeJ$  
     A":T1s  
    Ew$C ;&9  
    亮点 ` G kX  
    NCD04U5y  
     f?)-}\[IR{  
    J9 I:Q<;  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 wKY_Bo/d  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 H%{+QwzZ[j  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 hCo|HB  
    -ze J#B)C  
    说明：光源 0IWf!Sk ]  
    bN=P*hdf  
    onV>.7sG  
    (QiAisE  
    说明：透镜系统 51.%;aY~z  
    6E}qL8'5x  
    bs1Rvx1:J%  
     q0 \6F^;M  
    说明：样品结构 @KUWxFak  
    ABYcH]m  
    >C~6\L`c  
    8JUwf  
    说明：探测器 (Awm9|.{+  
    wS3'?PRX  
    W(/h Vt  
    k|f4Cf,  
    结果：3D光线追迹 t ZB<on<.)  
    x$(f7?s] 1  
     Wn}'bqp  
    #)VF3T@#'  
    结果：场追迹矩形光栅 Dum9lj  
    >`D:-huNeE  
    d<x7{?~.DK  
     h@wgd~X9  
    结果：场追迹锯齿形光栅 pmYHUj #  
    rU(+T0t?I  
     
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