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    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2023-03-16
    光学测量>显微 2vWkAC;   
    VKik8)/.  
    任务/系统描述 JH)&Ca>S  
    5V?1/  
    oR-_=U^  
    >wMsZ+@m  
    亮点 pY8+;w EI  
    (O`=$e  
    u'32nf?  
    -3 W 4  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 ._FgQ` `PL  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 uxh4nyE  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 c,D'Hl6(%  
    `Z@wWs  
    说明:光源 Ix *KL=MG  
    ![vc/wuf  
    klch!m=d  
    PTePSj1N  
    说明:透镜系统 UBU(@T(  
    fA 3  
    _K;rM7  
    ?` `+OH  
    说明:样品结构 a,j!B hu  
    U| N`X54  
    [j!0R'T  
    9*2hBNp+  
    说明:探测器 5;|9bWH  
    V_ ]4UE  
    [9LYR3 p  
    3BSeZ:j7  
    结果:3D光线追迹 3Q;^X(Ml*  
    \2+xMv)8  
    eq@ v2o7  
    @+{S-iD"  
    结果:场追迹矩形光栅 7=<PVJ*/  
    \7C >4  
    VJ$C)0xQA  
    aIfog+Lp  
    结果:场追迹锯齿形光栅 }pTj8Tr  
    Ha/\&Z(  
     
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