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光学测量＞显微 -E?:W`! b$DiDm 任务/系统描述 eY :"\c3
d2UidDU5qa
 T ]w I) SQ,-45@W 亮点 (O+d6oT=Z2
Sh!c]r>\Q
 !=:>y WQ 3cghg ._ 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 @~$d4K
y< 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 L-w3A:jk 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 {C 5: as xJ$uoy3+ 说明：光源 A6=Z2i0w>X o5s6$\"  ! :]_ -DX ,}IcQu'O 说明：透镜系统 A:(|"<lA et+lL"&  {*O%A
0E26J@jcZ7 说明：样品结构 i) e6 U(H &tZIWV1&  &Gh,ROo 4 O6 Py 说明：探测器 *:H,- @ ; 9j ]P56  0;TiNrzg o)5zvnu7 结果：3D光线追迹 anW['!T9{s J-<P~9m~I
 ?sQg{1"Z r |/K| Vwa 结果：场追迹矩形光栅 o>M^&)Xs W~mo*EJ'^  w0g@ <(
3
8j>V?'Szk 结果：场追迹锯齿形光栅 6c] 4(%8  Dh`&B
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