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光学测量>显微 68 - I2@& ]7dm`XV
任务/系统描述 7F|T5[*l "p2PZ)|
c/T]=S[ =x/]2+
s 亮点 %I6iXq# $G*$j!
^>9M2O['!s tV#x{DN 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 Bj%{PK 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 w?!@fu 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 oxcAKo R['qBHQ? 说明:光源 TmzEZ<} &7 3b#KrN' j24BB}mBB H~||]_q| 说明:透镜系统 X*%KR4` G9Xrwk<g4 Qs;bVlp!H dLQ!hKD~ 说明:样品结构 /7P4[~vw +sgishqn9 EkOBI[` E8FS jLZ 说明:探测器 SwSBQq%h]M
[[[p@d/Y JRU)AMMU& c1MALgK~}\ 结果:3D光线追迹 v>7=T8 }ZvL%4jT
(zgXhx_!D ,VJ0J!@ 结果:场追迹矩形光栅 6AZ/whn# %G\rL.H| \J9@p tM{t'WU 结果:场追迹锯齿形光栅 .D)'ZY /o8h1L=
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