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光学测量>显微 a<.@+sj{ \RO Sd 任务/系统描述 O9)8a] $7YLU{0
,u2<()`8D V=~dgy~@ 亮点 RUu'9#fq T]2q >N
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T\ ?K 0V#aq 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 7yl'!uz)9 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 pE,BE% 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 < *OF 5GkM7Zu!{j 说明:光源 2Wtfx"
.y Yl])Q|2I N> Y3[G+ PQr
N";+ 说明:透镜系统 (tN$G:+")F @oNrR$7 oZtz"B Cj9Tj'0@I+ 说明:样品结构 lUd,- |\t_I~de
=`H(`2 r1]^#&V;MC 说明:探测器 owhht98y( $49tV?q5 M(f'qFY=K _P:P5H8 结果:3D光线追迹 9qA_5x%"%u [:qX3"B
{r)M@@[ *TkABUL 结果:场追迹矩形光栅 v( B4Bz2 Nfh(2gK+ D=Y HJ>-wB H<"j3qt 结果:场追迹锯齿形光栅 ,<7f5qg"' RJSgts "F
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