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光学测量>显微 g6OPYUPg Jpn= ^f[rm 任务/系统描述 Uu9I;q!| qv<^%7gq
A(n3<(O/{Z Ns\};j?TU* 亮点 }LoMS<O-[ MG^YT%f
`r %lB u Vo"_c w 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 -\25&m!+ 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 \GZ|fmYn 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 Io{BO.K*Y O;0VKNn[' 说明:光源 _]L]_Bh G(bl)p^ m\MI 6/ 7ab'q&Y[ 说明:透镜系统 #6C<P!]V !Yz
CK*av1 2dDhO D/wJF[_ 说明:样品结构 27}0 *Xh#W7,< :G&:v XR$i:kL,, 说明:探测器 &%u m#XE 7t/Y5Qf Z tc\4 U6YHq2< 结果:3D光线追迹 7W>(T8K X\ Uz%ynH
A.~wgJDO !=u=P9I 结果:场追迹矩形光栅 Ve<f} Q(4~r+ JkKbw&65 E
H|L1g 结果:场追迹锯齿形光栅 ?6h~P:n. 0IBQE
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