切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 834阅读
    • 0回复

    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    在线infotek
     
    发帖
    7036
    光币
    29325
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-03-16
    光学测量>显微 sb.SpF>   
    I xBO$ 2  
    任务/系统描述 >/bK?yT<  
    ><c5Humr  
    Dj(7'jT  
    . *xq =  
    亮点 3HR]TQ%r  
    !Jl0Eu  
    7g+]  
    Ct+%  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 pUGfm  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 w[YbL2p  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 Q@VnJ,  
    (OQ @!R&  
    说明:光源 Z"Ni Y  
    #)}bUNc'  
    ] Nipo'N;  
    KBA%  
    说明:透镜系统 BK SK@OV  
    QC,(rB  
    yt: V+qdv  
    gi@ji-10  
    说明:样品结构 7#qL9+G  
    6*33k'=;F  
    CT%m_lN  
    ^|(4j_.(e  
    说明:探测器 N2s%p6RMPD  
    [;YBX] t  
    BM~niW;k  
    3eP0v  
    结果:3D光线追迹 Kg-X]yu*0  
    L b;vrh;A  
    _rdj,F8  
    _5 tqO5'  
    结果:场追迹矩形光栅 [iy;}5XK  
    cY'To<v  
    <>Ddxmw  
    a;(zH*/XK  
    结果:场追迹锯齿形光栅 )Hm[j)YI  
    ]pTw]SK  
     
    分享到