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    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-03-16
    光学测量＞显微 jc)D*Cf  
    SijC E~P  
    任务/系统描述 o5 . q  
    "sL#)<%  
     z4_>6sf{  
    -DU[dU*~  
    亮点 2l8jw:=H  
     5Lm ?  
     jJ|O]v$N  
    U,aV {qz  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 O8 k$Uc  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 }$81FSKh  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 :;)K>g,b  
    f>l}y->-Ug  
    说明：光源 Jr 9\j3J{  
    pPeS4$Y  
    "aAzG+NM  
    &YqgMC  
    说明：透镜系统 L[Tr"BW  
    g^4'42UX  
    n#bC ,  
     ks:Z=%o   
    说明：样品结构 #pE : !D  
    cFD(Ap  
    RzFv``g  
    co@Q   
    说明：探测器 'd0]`2tVg4  
    I:bi8D6  
    ~Ci|G3BW  
    1r|'n aiZ  
    结果：3D光线追迹 m~#98ZJ^  
    w+*Jl}&\  
     6\/C]![%  
    y`7BR?l  
    结果：场追迹矩形光栅 ZU7,=B=  
    JEs?Rm1^.  
    MU%C_d%.  
     \ec,=7S<Zf  
    结果：场追迹锯齿形光栅 1+.(N:) +  
    e ST8>r  
     
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