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    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-03-16
    光学测量＞显微 H`8}w{ft&  
    ;d||u  
    任务/系统描述 +v|]RgyW)  
    `HsI)RmX  
     :Pi="  
    e>$E67h<~  
    亮点 Y/G~P,9  
    +L#Q3}=s  
     6 Y}Bza  
    GP=&S|hi  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 (hIy31Pf  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 KoTQc0b!  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 t x#(K#/  
    0 I[3%Q{  
    说明：光源 -Deqlaf(  
    O.OSLezTQ  
    ~ ^) 4*@i6  
    mO^vKq4r.  
    说明：透镜系统 el^WBC3  
    N(L?F):fT  
    FFID<L f/2  
     0o-KjX?kP  
    说明：样品结构 p ^Dm w0y  
    %jmL#IN)  
    _tpqo>  
    BFMINq>  
    说明：探测器 +`Ypc  
    L:RMZp*bK  
    :<>=,`vQD  
    H6]z98  
    结果：3D光线追迹 nn6&`$(Q~  
    63y&MaqSJ  
     D$G:#z*  
    ^jZ4tH3K  
    结果：场追迹矩形光栅 haIH `S Y  
    B]5G"4,  
    /l$>W<}@  
     YVB\9{H?  
    结果：场追迹锯齿形光栅 MLn\ b0  
    e-e*%  
     
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