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光学测量>显微 //KTEAYyy# (xK=/()}q 任务/系统描述 &q1(v3cOO ',8]vWsl
Gh0H)
q 7M}T^LC 亮点 : QSlctW G,>tC`!
% Z&[wU~ f[ GH 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 k='sI^lF 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 R+lKQAyC0= 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 UY
j zm2&\8J 说明:光源 .{HU1/! ~CldqXeI <;#d*&] fMwJwMT8 说明:透镜系统 `y0ZFh1>X /7|u2!#Ui 8gJ"7,}-' IvetQ+ 说明:样品结构 &GwBxJ
2|tZ xlt- _]1dm)% ywmx6q4MFL 说明:探测器 !40{1U&@a` 8U\;N -`]B4Nt6 j9%u& 结果:3D光线追迹 HoymGU`w T_6,o[b8
:g'"*VXYB wGd8q xa 结果:场追迹矩形光栅 u)&6;A4 PmvTCfsg "KOLRJ@ P^v`5v 结果:场追迹锯齿形光栅 J[L$8y: ~Ht[kO
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